Rozporządzenie Rady (UE) 2023/427 z dnia 25 lutego 2023 r. w sprawie zmiany rozporządzenia (UE) nr 833/2014 dotyczącego środków ograniczających w związku z działaniami Rosji destabilizującymi sytuację na Ukrainie

Załącznik II

W mocy

Załącznik VII do rozporządzenia (UE) nr 833/2014 otrzymuje brzmienie:

„ZAŁĄCZNIK VII

Wykaz towarów i technologii, o których mowa w art. 2a ust. 1 i art. 2b ust. 1

Część A

Do niniejszego załącznika mają zastosowanie uwagi ogólne, akronimy i skróty oraz definicje zawarte w załączniku I do rozporządzenia (UE) 2021/821 z wyjątkiem »Części I – Uwagi ogólne, akronimy i skróty oraz definicje, uwagi ogólne do załącznika I, pkt 2«.

Definicje terminów stosowanych we wspólnym wykazie uzbrojenia (CML) Unii Europejskiej (2020/C 85/01) mają zastosowanie do niniejszego załącznika.

Bez uszczerbku dla art. 12 niniejszego rozporządzenia produkty niekontrolowane zawierające co najmniej jeden komponent wymieniony w niniejszym załączniku nie podlegają kontrolom na mocy art. 2a i 2b niniejszego rozporządzenia.

Kategoria I – Elektronika

X.A.I.001

Urządzenia i podzespoły elektroniczne.

„mikroukłady mikroprocesorowe”, „mikroukłady mikrokomputerowe” i mikroukłady do mikrosterowników posiadające jedną z następujących cech charakterystycznych:

1. prędkość eksploatacyjną co najmniej 5 gigaflopsów i jednostkę arytmetyczno-logiczną z szyną dostępu na co najmniej 32 bity;

2. częstotliwość zegara powyżej 25 MHz; lub

3. więcej niż jedną szynę danych albo rozkazów albo szeregowy port komunikacji zapewniający bezpośrednie zewnętrzne połączenie między równoległym „mikroukładem mikroprocesorowym”, o prędkości transmisji danych 2,5 MB/s;

następujące układy scalone pamięci:

1. elektronicznie wymazywalne programowane pamięci tylko do odczytu (EEPROM) o pojemności:

przekraczającej 16 Mbit na pakiet dla typów pamięci flash; lub

przekraczającej jedną z następujących wartości granicznych dla wszystkich pozostałych typów EEPROM:

1. powyżej 1 Mbit na opakowanie; lub

2. powyżej 256 kbitów na opakowanie i maksymalny czas dostępu poniżej 80 ns;

2. pamięci statyczne o dostępie swobodnym (SRAM) o pojemności:

powyżej 1 Mbit na opakowanie; lub

powyżej 256 kbitów na opakowanie i maksymalny czas dostępu poniżej 25 ns;

przetworniki analogowo-cyfrowe posiadające jedną z następujących cech charakterystycznych:

1. rozdzielczość 8 bitów lub większa, lecz mniej niż 12 bitów i wielkość wyjściowa większa niż 200 megapróbek na sekundę (MSPS);

2. rozdzielczość 12 bitów i wielkość wyjściowa większa niż 105 mega próbek/sek. (MSPS);

3. rozdzielczość powyżej 12 bitów lecz równa lub mniejsza niż 14 bitów i wielkość wyjściowa większa niż 10 megapróbek na sekundę (MSPS); lub

4. rozdzielczość ponad 14 bitów i wielkość wyjściowa większa niż 2,5 megapróbek na sekundę (MSPS);

programowalne przez użytkownika urządzenia logiczne posiadające maksymalną liczbę asynchronicznych cyfrowych wejść/wyjść wynoszącą między 200 a 700;

procesory do szybkiej transformacji Fouriera (FFT) posiadające nominalny czas realizacji dla 1 024 punktowej zespolonej transformaty FFT poniżej 1 ms;

wykonywane na zamówienie układy scalone o nieznanej ich producentowi funkcji lub poziomie kontroli sprzętu, w którym będzie zastosowany dany układ scalony, spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:

1. posiadające ponad 144 końcówek; lub

2. typowe „podstawowe opóźnienie przechodzenia sygnału przez bramkę” mniejsze niż 0,4 ns;

następujące „elektroniczne urządzenia próżniowe” o fali bieżącej, fali impulsowej lub ciągłej:

1. sprzężone urządzenia wnękowe lub ich pochodne;

2. urządzenia oparte na obwodach z prowadnicami spiralnymi, składanymi lub w kształcie serpentyny lub ich pochodne, spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:

„chwilowa szerokość pasma” równa co najmniej połowie oktawy i średnia moc (wyrażona w kW) razy częstotliwość (wyrażona w GHz) większa niż 0,2; lub

„chwilowa szerokość pasma” mniejsza niż połowa oktawy; i średnia moc (wyrażona w kW) razy częstotliwość (wyrażona w GHz) większa niż 0,4;

elastyczne falowody przeznaczone do użytku na częstotliwościach przewyższających 40 GHz;

urządzenia wykorzystujące powierzchniowe fale akustyczne oraz szumiące powierzchniowo (płytkie) fale akustyczne spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:

1. częstotliwość nośna powyżej 1 GHz; lub

2. częstotliwość nośna równa lub większa niż 1 GHz; oraz

„tłumienie pasma bocznego częstotliwości” powyżej 55 dB;

iloczyn maksymalnego czasu zwłoki i szerokości pasma (czas w μs, a szerokość pasma w MHz) powyżej 100; lub

opóźnienie dyspersyjne powyżej 10 μs;

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.A.I.001.i ’Tłumienie pasma bocznego częstotliwości’ oznacza maksymalną wartość tłumienia wyszczególnioną na arkuszu danych.

‘ogniwa’, takie jak:

1. ‘ogniwa pierwotne’ o ‘gęstości energii’ nie większej niż 550 Wh/kg w temperaturze 293 K (20 °C);

2. ‘ogniwa wtórne’ o ‘gęstości energii’ nie większej niż 350 Wh/kg w temperaturze 293 K (20 °C);

Uwaga:

Pozycja X.A.I.001.j nie obejmuje kontrolą baterii, w tym również baterii pojedynczych.

Uwagi techniczne:

1. Do celów pozycji X.A.I.001.j. gęstość energii (Wh/kg) otrzymuje się, mnożąc napięcie znamionowe przez pojemność znamionową w amperogodzinach (Ah) i dzieląc powyższe przez masę w kilogramach. Jeżeli pojemność znamionowa nie jest podana, gęstość energii otrzymuje się przez podniesienie napięcia znamionowego do kwadratu, a następnie pomnożenie przez czas rozładowania wyrażony w godzinach oraz podzielenie przez obciążenie rozładowania wyrażone w omach i całkowitą masę ogniwa wyrażoną w kilogramach.

2. Do celów pozycji X.A.I.001.j ‘ogniwo’ definiuje się jako urządzenie elektrochemiczne zawierające elektrody dodatnie i ujemne oraz elektrolit i będące źródłem energii elektrycznej. Jest to podstawowy element składowy baterii.

3. Do celów pozycji X.A.I.001.j.1 ‘ogniwo pierwotne’ jest ‘ogniwem’, które nie jest przeznaczone do ładowania z jakiegokolwiek innego źródła.

4. Do celów pozycji X.A.I.001.j.2 ‘ogniwo wtórne’ jest ‘ogniwem’, które jest przeznaczone do ładowania z zewnętrznego źródła energii elektrycznej.

„nadprzewodzące” elektromagnesy lub cewki, specjalnie zaprojektowane w sposób umożliwiający ich pełne ładowanie i rozładowanie w czasie mniejszym niż jedna minuta, posiadające wszystkie niżej wymienione cechy:

Uwaga:

Pozycja X.A.I.001.k. nie obejmuje kontrolą elektromagnesów ani cewek „nadprzewodzących” zaprojektowanych do aparatury obrazowania rezonansem magnetycznym (MRI), wykorzystywanej w medycynie.

1. maksymalna energia dostarczona podczas rozładowania podzielona przez czas rozładowania powyżej 500 kJ na minutę;

2. średnica wewnętrzna uzwojenia prądowego cewki wynosi powyżej 250 mm; oraz

3. zostały dostosowane do indukcji magnetycznej powyżej 8 T lub posiadają „całkowitą gęstość prądu” w uzwojeniu powyżej 300 A/mm2;

układy lub systemy magazynowania energii elektromagnetycznej zawierające podzespoły wykonane z materiałów „nadprzewodzących”, specjalnie zaprojektowane do pracy w temperaturach poniżej „temperatury krytycznej” co najmniej jednego z elementów „nadprzewodzących” i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:

1. częstotliwości robocze powyżej 1 MHz;

2. gęstość zmagazynowanej energii wynosząca co najmniej 1 MJ/m3; oraz

3. czas wyładowania poniżej 1 ms;

tyratrony wodorowe/wodorowo izotopowe o konstrukcji ceramiczno-metalowej i prądzie szczytowym 500 A lub większym;

nieużywane;

ogniwa słoneczne, zespoły ogniwo-łącznik-szkło osłonowe (CIC), panele słoneczne i baterie słoneczne, które są „klasy kosmicznej” i nie są objęte kontrolą według pozycji 3A001.e.4 (1).

X.A.I.002

„Zespoły elektroniczne”, moduły i sprzęt ogólnego przeznaczenia.

elektroniczne urządzenia testowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

urządzenia do cyfrowego zapisu na taśmie magnetycznej posiadające którąkolwiek z następujących cech:

1. złącze komunikacyjne o maksymalnej szybkości przesyłania sygnałów cyfrowych powyżej 60 Mbit/s i wykorzystujące techniki skanowania spiralnego;

2. złącze komunikacyjne o maksymalnej szybkości przesyłania sygnałów cyfrowych powyżej 120 Mbit/s i wykorzystujące techniki skanowania za pomocą głowicy stałej; lub

3. „klasy kosmicznej”;

urządzenia posiadające złącza komunikacyjne o szybkości przesyłania sygnałów cyfrowych powyżej 60 Mbit/s, umożliwiające przekształcanie cyfrowych rejestratorów obrazów na taśmie magnetycznej w cyfrowe rejestratory danych;

niemodularne oscyloskopy analogowe o szerokości pasma 1 GHz lub większej;

systemy modularnych oscyloskopów analogowych posiadające którąkolwiek z następujących cech:

1. procesor o szerokości pasma 1 GHz lub większej; lub

2. moduły wtykowe o indywidualnej szerokości pasma 4 GHz lub większej;

analogowe oscyloskopy próbkujące do analizy powtarzających się zjawisk o efektywnej szerokości pasma większej niż 4 GHz;

cyfrowe oscyloskopy i rejestratory stanów przejściowych, wykorzystujące techniki przetwarzania analogowo-cyfrowego, umożliwiające przechowywanie stanów przejściowych poprzez sekwencyjne próbkowanie jednostkowych sygnałów wejściowych w kolejnych odstępach czasu mniejszych niż 1 ns (ponad 1 giga próbek na sekundę (GSPS)), digitalizując z rozdzielczością 8 bitów lub większa i przechowując co najmniej 256 próbek.

Uwaga:

Pozycja X.A.I.002 obejmuje kontrolą następujące specjalnie zaprojektowane podzespoły do analogowych oscyloskopów:

1. jednostki typu plug-in;

2. wzmacniacze zewnętrzne;

3. przedwzmacniacze;

4. przyrządy do pobierania próbek;

5. lampy elektronopromieniowe.

X.A.I.003

Następujące specjalistyczne urządzenia do przetwarzania, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821:

przemienniki częstotliwości oraz ich specjalnie zaprojektowane części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

spektrometry masowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

cała aparatura rentgenowska FXR lub podzespoły systemów impulsowych zaprojektowanych z jej wykorzystaniem, w tym generatory Marxa, sieci pulsacyjne o wysokiej mocy, wysokonapięciowe kondensatory i wyzwalacze;

wzmacniacze impulsowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

następujące urządzenia elektroniczne do generowania opóźnienia czasowego lub pomiaru przedziałów czasowych:

1. cyfrowe generatory opóźnienia czasowego o rozdzielczości 50 ns lub mniej w przedziałach czasu 1 μs lub więcej; lub

2. wielokanałowe (z trzema lub więcej kanałami) lub modularne liczniki przedziału czasowego i urządzenia chronometryczne o rozdzielczości 50 ns lub mniej w przedziałach czasu 1 μs lub więcej;

instrumenty analityczne w zakresie chromatografii i spektometrii.

X.B.I.001

Następujące urządzenia do produkcji elektronicznych podzespołów lub materiałów oraz specjalnie zaprojektowane podzespoły i akcesoria do:

urządzenia specjalnie zaprojektowane do produkcji lamp elektronowych, elementów optycznych oraz specjalnie zaprojektowane podzespoły do nich objęte kontrolą według pozycji 3A001 (2) lub X.A.I.001;

następujące urządzenia specjalnie zaprojektowane do produkcji urządzeń półprzewodnikowych, układów scalonych i „zespołów elektronicznych” oraz systemy zawierające taki sprzęt lub mające jego cechy:

Uwaga:

Pozycja X.B.I.001.b obejmuje kontrolą również urządzenia używane do stosowania w produkcji innych urządzeń, takich jak urządzenia do przetwarzania obrazu, urządzenia elektrooptyczne, urządzenia do fal akustycznych lub zmodyfikowane w tym celu.

1. następujący sprzęt do przetwarzania materiałów do produkcji urządzeń i podzespołów wymienionych w pozycji X.B.I.001.b:

Uwaga:

Pozycja X.B.I.001 nie obejmuje kontrolą rur kwarcowych, wykładzin piecowych, łopatek, łodzi (z wyjątkiem specjalnie zaprojektowanych łodzi klatkowych), bełkotek, kaset lub tygli specjalnie zaprojektowanych do urządzeń przetwórczych objętych kontrolą według pozycji X.B.I.001.b.1.

urządzenia do produkcji krzemu polikrystalicznego i materiałów objętych kontrolą według pozycji 3C001 (3);

urządzenia specjalnie zaprojektowane do oczyszczania lub przetwarzania materiałów półprzewodnikowych III/V i II/VI objętych kontrolą według pozycji 3C001, 3C002, 3C003, 3C004 lub 3C005

, z wyjątkiem wyciągarek kryształów, dla których zob. X.B.I.001.b.1.c poniżej;

następujące wyciągarki kryształów i piece:

Uwaga:

X.B.I.001.b.1.c nie obejmuje kontrolą pieców dyfuzyjnych i utleniających.

1. urządzenia do wyżarzania lub rekrystalizacji, inne niż piece stałotemperaturowe, wykorzystujące wysokie szybkości transferu energii, zdolne do przetwarzania płytek półprzewodnikowych z szybkością przekraczającą 0,005 m2 na minutę;

2. pullery do wyciągania kryształów ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ i posiadające którąkolwiek z niżej wymienionych cech:

wielokrotne ładowanie bez wymiany tygla;

zdolność do pracy przy ciśnieniach powyżej 2,5 x 105 Pa; lub

zdolność do ciągnięcia kryształów o średnicy przekraczającej 100 mm;

urządzenia do wytwarzania warstw epitaksjalnych ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ posiadające którąkolwiek z następujących cech:

1. zdolność do wytwarzania warstwy krzemu o równomiernej grubości z dokładnością poniżej ± 2,5 % na odcinku o długości 200 mm lub większej;

2. zdolność do wytwarzania warstwy dowolnego materiału innego niż krzem o równomiernej grubości płytki półprzewodnikowej z dokładnością co najmniej ± 3,5 %; lub

3. rotacja poszczególnych płytek podczas przetwarzania;

sprzęt wykorzystujący wiązkę molekularną do wytwarzania warstw epitaksjalnych;

sprzęt wzmacniany magnetycznie do ‘rozpylania jonowego’ ze ‘specjalnie zaprojektowanymi’ blokadami ładunkowymi, zdolny do przenoszenia płytek w izolowanym środowisku próżniowym;

sprzęt specjalnie zaprojektowany do implantacji jonów, dyfuzji wzmocnionej jonami lub fotowzmocnionej, posiadające którąkolwiek z niżej wymienionych cech:

1. zdolność do wytwarzania wzorów;

2. energia wiązki (napięcie przyspieszające) powyżej 200 keV;

3. zoptymalizowanie do działania przy energii wiązki (napięciach przyspieszających) poniżej 10 keV; lub

4. zdolność do wysokoenergetycznej implantacji tlenu w podgrzane „podłoże”;

następujące urządzenia ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ do selektywnego usuwania (trawienia) za pomocą suchych metod anizotropowych (np. za pomocą plazmy):

1. ‘typy do serii’ posiadające którąkolwiek z niżej wyszczególnionych cech:

wykrywanie punktów końcowych inne niż typy oparte na optycznej spektroskopii emisyjnej; lub

ciśnienie robocze reaktora (trawienie) jest nie większe niż 26,66 Pa;

2. ‘typy do pojedynczych płytek’ posiadające którąkolwiek z niżej wyszczególnionych cech:

wykrywanie punktów końcowych inne niż typy oparte na optycznej spektroskopii emisyjnej;

ciśnienie robocze reaktora (trawienie) jest nie większe niż 26,66 Pa; lub

podawanie płytek za pomocą urządzeń typu kaseta-kaseta i load-lock

Uwagi:

1. ‘Typy do serii’ odnoszą się do maszyn, które nie są specjalnie zaprojektowane do produkcji pojedynczych płytek. Takie maszyny mogą przetwarzać co najmniej dwie płytki jednocześnie przy wspólnych parametrach procesu (np. moc w zakresie fal radiowych, temperatura, rodzaj gazu trawiącego, szybkość przepływu).

2. ‘Typy do pojedynczych płytek’ odnosi się do maszyn, które są specjalnie zaprojektowane do produkcji pojedynczych płytek. maszyny te mogą wykorzystywać techniki automatycznego podawania płytek do załadowywania pojedynczej płytki do urządzeń do przetwarzania. Definicja obejmuje urządzenia, które mogą ładować i przetwarzać kilka płytek, ale w przypadku których parametry trawienia, np. moc znamionowa w zakresie fal radiowych lub punkt końcowy, można określić niezależnie dla każdej pojedynczej płytki.

urządzenia do chemicznego osadzania z fazy gazowej (CVD), np. CVD intensyfikowane za pomocą plazmy (PECVD) lub CVD wzmacniane fotowoltaicznie, do produkcji urządzeń półprzewodnikowych, do osadzania tlenków, azotków, metali lub krzemu multikrystalicznego, posiadające jedną z następujących właściwości:

1. urządzenia do chemicznego osadzania z fazy gazowej działające poniżej 105 Pa; lub

2. urządzenia PECVD pracujące poniżej 60 Pa lub wyposażone w automatyczne podawanie płytek za pomocą urządzeń typu kaseta-kaseta i load-lock;

Uwaga:

Pozycja X.B.I.001.b.1.i nie obejmuje kontrolą systemów niskociśnieniowego chemicznego osadzania z fazy gazowej (LPCVD) ani urządzeń reaktywnych do ‘rozpylania jonowego’.

systemy wiązek elektronów specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do wytwarzania masek lub przetwarzania urządzeń półprzewodnikowych, posiadające którąkolwiek z niżej wymienionych cech:

1. odchylenie wiązki elektrostatycznej;

2. profilowany, niegaussowski profil wiązki;

3. prędkość przetwarzania analogowo-cyfrowego powyżej 3 MHz;

4. dokładność przetwarzania analogowo-cyfrowego powyżej 12 bitów; lub

5. dokładność sterowania sprzężeniem zwrotnym „od celu do wiązki” (target-to-beam) 1 μm lub większa;

Uwaga:

Pozycja X.B.I.001.b.1.j nie obejmuje kontrolą systemów naparowywania elektronowego ani skaningowych mikroskopów elektronowych ogólnego przeznaczenia.

następujące urządzenia do wykańczania powierzchni podczas obróbki płytek półprzewodnikowych:

1. specjalnie zaprojektowane urządzenia do obróbki odwrotnej strony płytek cieńszych niż 100 μm, a następnie ich oddzielania; lub

2. specjalnie zaprojektowane urządzenia do osiągania nierówności powierzchni czynnej przetworzonej płytki o wartości dwa sigma nie większej niż 2 μm, całkowitego wskazanego odczytu (TIR);

Uwaga:

Pozycja X.B.I.001.b.1.k nie obejmuje kontrolą urządzeń do jednostronnego docierania i polerowania do wykańczania powierzchni płytek.

urządzenia łączące, które obejmują wspólne pojedyncze lub złożone komory próżniowe specjalnie zaprojektowane w celu umożliwienia integracji wszelkich urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.B.I.001 w kompletny system;

urządzenia ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ wykorzystujące „lasery” do naprawy lub przycinania „monolitycznych układów scalonych”, posiadające jedną z niżej wymienionych cech:

1. dokładność pozycjonowania mniejsza niż ±1 μm; lub

2. rozmiar plamki (szerokość szczeliny) poniżej 3 μm;

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.B.I.001.b.1 ‘Rozpylanie jonowe’ jest procesem powlekania, w którym naładowane dodatnio jony są przyspieszane przez pole elektryczne w kierunku powierzchni docelowej (materiał powłokowy). Energia kinetyczna padających jonów jest wystarczająca do wyrwania atomów z powierzchni materiału powłokowego i osadzenia ich na powierzchni podłoża. (

Uwaga:

Rozpylanie jonowe za pomocą triody, magnetronowe i reakcyjne, które jest wykorzystywane do zwiększania przyczepności powłoki i wydajności osadzania jest zwykłą modyfikacją procesu).

2. następujące maski, podłoża, urządzenia do wytwarzania masek i urządzenia do przenoszenia obrazu do produkcji urządzeń i podzespołów wyszczególnionych w pozycji X.B.I.001:

Uwaga:

Termin maski odnosi się do masek stosowanych w litografii elektronowej, litografii rentgenowskiej i litografii ultrafioletowej, a także zwykłej fotolitografii w świetle ultrafioletowym i widzialnym.

gotowe maski, siatki i wzory do nich, z wyjątkiem:

1. gotowych masek lub siatek do produkcji obwodów scalonych nieobjętych kontrolą według pozycji 3A001 (4); lub

2. masek lub siatek spełniające oba poniższe kryteria:

ich konstrukcja opiera się na geometrii 2,5 μm lub większej; oraz

projekt nie zawiera szczególnych cech umożliwiających zmianę zamierzonego zastosowania za pomocą urządzeń produkcyjnych lub „oprogramowania”;

następujące podłoża maski:

1. „podłoża” pokryte twardą powierzchnią (np. chromem, krzemem, molibdenem) (np. szkło, kwarc, szafiry) do przygotowania masek o wymiarach przekraczających 125 mm x 125 mm; lub

2. podłoża specjalnie zaprojektowane do masek rentgenowskich;

sprzęt, inny niż komputery ogólnego przeznaczenia, specjalnie zaprojektowany do wspomaganego komputerowo projektowania (CAD) urządzeń półprzewodnikowych lub układów scalonych;

następujące maszyny lub sprzęt do produkcji masek lub siatek:

1. fotooptyczne kamery typu step-and-repeat zdolne do wytwarzania matryc o wymiarach większych niż 100 mm x 100 mm lub zdolne do pojedynczej ekspozycji większej niż 6 mm x 6 mm w płaszczyźnie obrazu (tj. ogniskowej) lub zdolne do wytwarzania szerokości linii poniżej 2,5 μm w substancji fotolitograficznej na „podłożu”;

2. urządzenia do wytwarzania masek lub siatek, wykorzystujące litografię jonową lub „laserową”, zdolne do wytwarzania linii o szerokości poniżej 2,5 μm; lub

3. urządzenia lub uchwyty do zmiany masek lub siatek lub do dodawania membran w celu usunięcia usterek;

Uwaga:

Pozycje X.B.I.001.b.2.d.1 i b.2.d.2 nie obejmują kontrolą urządzeń do wytwarzania masek przy użyciu metod fotooptycznych, które były dostępne na rynku przed dniem 1 stycznia 1980 r., lub o wydajności nie wyższej niż takie urządzenia.

urządzenia ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ do kontroli masek, siatek lub membran o:

1. rozdzielczości 0,25 μm lub większej; oraz

2. dokładności 0,75 μm lub większej na odcinku o jednej lub dwóch współrzędnych wynoszącym co najmniej 63,5 mm;

Uwaga:

Pozycja X.B.I.001.b.2.e nie obejmuje kontrolą skaningowych mikroskopów elektronowych ogólnego przeznaczenia, z wyjątkiem specjalnie zaprojektowanych i oprzyrządowanych do automatycznej kontroli wzorów.

urządzenia pozycjonujące i naświetlające do produkcji płytek przy użyciu metod fotooptycznych lub rentgenowskich, np. sprzęt litograficzny, w tym zarówno sprzęt do przenoszenia obrazów poprzez projekcję, jak i metodę step-and-repeat (bezpośrednie działanie na płytkę) lub sprzęt skanujący (skaner), zdolny do wykonywania którejkolwiek z następujących funkcji:

Uwaga:

Pozycja X.B.I.001.b.2.f nie obejmuje kontrolą fotooptycznych urządzeń kontaktowych i zbliżeniowych do pozycjonowania i naświetlania masek lub przenoszenia obrazów kontaktowych.

1. wytwarzanie wzoru o wielkości mniejszej niż 2,5 μm;

2. pozycjonowanie z dokładnością większą niż ±0,25 μm (3 sigma);

3. nakładanie maszyna-maszyna nie lepsze niż ±0,3 μm; lub

4. źródło światła o długości fali krótszej niż 400 nm;

wiązka elektronów, wiązka jonów lub urządzenia rentgenowskie do przenoszenia obrazów za pomocą projekcji zdolne do wytwarzania wzorów poniżej 2,5 μm;

Uwaga:

W przypadku systemów skupionej wiązki odchylanej (systemy z bezpośrednim zapisem), zob. X.B.I.001.b.1.j.

urządzenia wykorzystujące „lasery” do bezpośredniego zapisu na płytkach, zdolne do wytwarzania wzorów poniżej 2,5 μm;

3. następujące urządzenia do montażu układów scalonych:

urządzenie do mocowania płytki ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ posiadające wszystkie niżej wymienione cechy:

1. specjalnie zaprojektowane dla „hybrydowych układów scalonych”;

2. skok pozycjonowania stolika X-Y przekracza 37,5 x 37,5 mm; oraz

3. dokładność umiejscowienia w płaszczyźnie X-Y jest mniejsza niż ±10 μm;

urządzenia ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ do tworzenia wielu połączeń w jednej operacji (np. urządzenia łączące beam lead, urządzenia łączące nośniki układów scalonych, urządzenia łączące taśmą);

półautomatyczne lub automatyczne zgrzewarki na gorąco, w których nasadka jest podgrzewana lokalnie do temperatury wyższej niż korpus opakowania, specjalnie zaprojektowane do ceramicznych pakietów mikroukładów objętych kontrolą według pozycji 3A001 (5) i których przepustowość wynosi co najmniej jedno opakowanie na minutę;

Uwaga:

Pozycja X.B.I.001.b.3 nie obejmuje kontrolą spawarek punktowych oporowych o ogólnym przeznaczeniu.

4. filtry do pomieszczeń czystych zdolne do zapewnienia powietrza zawierającego nie więcej niż 10 cząstek o wielkości 0,3 μm na 0,02832 m3 oraz materiały filtrujące do nich.

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.B.I.001 ‘sterowanie programem zapisanym w pamięci’ oznacza sterowanie za pomocą instrukcji przechowywanych w pamięci elektronicznej, które procesor może wykonać w celu kierowania wykonywaniem z góry określonych funkcji Urządzenie może być ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ niezależnie od tego, czy pamięć elektroniczna jest wewnętrzna, czy też zewnętrzna względem urządzenia.

X.B.I.002

Urządzenia do kontroli lub testowania elektronicznych podzespołów i materiałów oraz specjalnie zaprojektowane podzespoły i akcesoria do nich.

urządzenia specjalnie zaprojektowane do kontroli lub testowania lamp elektronowych, elementów optycznych oraz specjalnie zaprojektowane podzespoły do nich objęte kontrolą według pozycji 3A001 (6) lub X.A.I.001;

następujące urządzenia specjalnie zaprojektowane do kontroli lub testowania urządzeń półprzewodnikowych, układów scalonych i „zespołów elektronicznych” oraz systemy zawierające taki sprzęt lub mające jego cechy:

Uwaga:

Pozycja X.B.I.002.b obejmuje kontrolą również urządzenia używane do stosowania w kontroli lub testowaniu innych urządzeń, takich jak urządzenia do przetwarzania obrazu, urządzenia elektrooptyczne, urządzenia do fal akustycznych lub zmodyfikowane w tym celu.

1. urządzenia kontrolne ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ do automatycznego wykrywania usterek, błędów lub zanieczyszczeń o wielkości 0,6 μm lub mniejszej, w lub na przetworzonych płytkach i podłożach, innych niż płytki obwodów drukowanych lub układy scalone, wykorzystujące techniki uzyskiwania obrazów optycznych do porównywania wzorów;

Uwaga:

Pozycja X.B.I.002.b.1 nie obejmuje kontrolą skaningowych mikroskopów elektronowych ogólnego przeznaczenia, z wyjątkiem specjalnie zaprojektowanych i oprzyrządowanych do automatycznej kontroli wzorów.

2. następujące specjalnie zaprojektowane urządzenia pomiarowe i analityczne ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’:

specjalnie zaprojektowane do pomiaru zawartości tlenu lub węgla w materiałach półprzewodnikowych;

urządzenia do pomiaru szerokości linii z rozdzielczością 1 μm lub większą;

specjalnie zaprojektowane instrumenty do pomiaru płaskości, umożliwiające pomiar odchyleń 10 μm lub mniejszych z rozdzielczością 1 μm lub większą;

3. sprzęt do sondowania płytek ‘sterowany programem zapisanym w pamięci’ posiadający którąkolwiek z następujących cech:

dokładność pozycjonowania większa niż 3,5 μm;

zdolność do testowania urządzeń posiadających więcej niż 68 zacisków; lub

zdolność do testowania przy częstotliwości powyżej 1 GHz;

4. następujące urządzenia testowe:

urządzenia ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ specjalnie zaprojektowane do testowania dyskretnych elementów półprzewodnikowych i nieobudowanych matryc, zdolne do testowania przy częstotliwościach powyżej 18 GHz;

Uwaga techniczna:

Dyskretne urządzenia półprzewodnikowe obejmują fotokomórki i ogniwa słoneczne.

urządzenia ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ specjalnie zaprojektowany do testowania układów scalonych i ich „zespołów elektronicznych”, zdolne do testowania funkcjonalnego:

1. przy ‘szybkości wzorca’ przekraczającej 20 MHz; lub

2. przy ‘szybkości wzorca’ przekraczającej 10 MHz, ale nieprzekraczającej 20 MHz i zdolne do testowania pakietów liczących ponad 68 terminali;

Uwagi: Pozycja X.B.I.002.b.4.b. nie obejmuje kontrolą urządzeń testujących specjalnie zaprojektowanego do testowania:

1. pamięci

2. zespołów elektronicznych lub klasy „zespołów elektronicznych” do zastosowań domowych albo rozrywkowych; oraz

3. elektronicznych podzespołów, „elektronicznych zespołów” i układów scalonych nieobjętych kontrolą według pozycji 3A001 (7)

lub X.A.I.001, pod warunkiem że takie urządzenia testowe nie zawierają urządzeń obliczeniowych z „możliwością programowania przez użytkownika”.

Uwaga techniczna:

Do celów tej pozycji X.B.I.002.b.4.b ‘szybkość wzorca’, określona jest jako maksymalna częstotliwość operacji cyfrowych testera. Jest ona zatem równoważna największej szybkości przesyłania danych, z jaką tester może działać w trybie niemultipleksowym. Jest również określana jako prędkość testowania, maksymalna częstotliwość cyfrowa lub maksymalna prędkość cyfrowa.

urządzenia specjalnie zaprojektowane do określania wydajności układów płaszczyzn ogniskowych dla długości fal powyżej 1 200 nm wykorzystujące pomiary ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ lub ocenę wspomaganą komputerowo i posiadające którąkolwiek z niżej wymienionych cech:

1. przy skanowaniu plamek świetlnych o średnicy mniejszej niż 0,12 mm;

2. zaprojektowane do pomiaru parametrów fotoczułości oraz do oceny odpowiedzi częstotliwościowej, funkcji przenoszenia modulacji, jednolitości reakcji lub szumu; lub

3. zaprojektowane do oceny zestawów zdolnych do tworzenia obrazów o ponad 32 x 32 elementach liniowych;

5. systemy do testowania wiązką elektronów zaprojektowane do pracy przy napięciu 3 keV lub niższym lub systemy z wiązką „laserową” do bezkontaktowego sondowania zasilanych urządzeń półprzewodnikowych, spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:

zdolność stroboskopowa z wygaszaniem wiązki lub strobowaniem detektora;

spektrometr elektronowy do pomiarów napięcia o rozdzielczości poniżej 0,5 V; lub

elektryczne przyrządy badawcze do analizy wydajności układów scalonych;

Uwaga:

Pozycja X.B.I.002.b.5 nie obejmuje kontrolą skaningowych mikroskopów elektronowych z wyjątkiem specjalnie zaprojektowanych i oprzyrządowanych do bezstykowego sondowania zasilanego urządzenia półprzewodnikowego.

6. wielofunkcyjne systemy zogniskowanych wiązek jonów ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’, specjalnie zaprojektowane do produkcji, naprawy, analizy układu fizycznego i testowania masek lub urządzeń półprzewodnikowych i posiadające jedną z następujących cech:

dokładność sterowania sprzężeniem zwrotnym „od celu do wiązki” (target-to-beam) 1 μm lub większa; lub

dokładność przetwarzania analogowo-cyfrowego powyżej 12 bitów;

7. systemy do pomiaru cząstek stałych wykorzystujące „lasery” zaprojektowane do pomiaru wielkości cząstek i ich stężenia w powietrzu, posiadające obydwie niżej wymienione cechy:

zdolność do pomiaru cząstek o wielkości 0,2 μm lub mniejszych przy natężeniu przepływu 0,02832 m3 na minutę lub większym; oraz

zdolność do scharakteryzowania czystego powietrza klasy 10 lub lepszej.

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.B.I.002 ‘sterowanie programem zapisanym w pamięci’ oznacza sterowanie za pomocą instrukcji przechowywanych w pamięci elektronicznej, które procesor może wykonać w celu kierowania wykonywaniem z góry określonych funkcji Urządzenie może być ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ niezależnie od tego, czy pamięć elektroniczna jest wewnętrzna, czy też zewnętrzna względem urządzenia.

X.C.I.001

Materiały fotorezystywne pozytywowe zaprojektowane do litografii półprzewodnikowej, specjalnie wyregulowanej (zoptymalizowanej) do stosowania w zakresie długości fali od 193 do 370 nm;

X.D.I.001

„Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń lub podzespołów elektronicznych objętych kontrolą według pozycji X.A.I.001, sprzętu elektronicznego ogólnego przeznaczenia objętego kontrolą według pozycji X.A.I.002 lub sprzętu do produkcji i testowania objętego kontrolą według pozycji X.B.I.001 i X.B.I.002; lub „oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane do „użytkowania” urządzeń objętych kontrolą według pozycji 3B001.g i 3B001.h (8).

X.E.I.001

„Technologia” do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń lub podzespołów elektronicznych objętych kontrolą według pozycji X.A.I.001, sprzętu elektronicznego ogólnego przeznaczenia objętego kontrolą według pozycji X.A.I.002 lub sprzętu do produkcji i testowania objętego kontrolą według pozycji X.B.I.001 lub X.B.I.002 lub materiały objęte kontrolą według pozycji X.C.I.001.

Kategoria II – Komputery

Uwaga:

Kategoria II nie obejmuje kontrolą towarów przeznaczonych na użytek własny osób fizycznych.

X.A.II.001

Komputery, „zespoły elektroniczne” i towarzyszący im sprzęt, nieobjęte kontrolą według pozycji 4A001 lub 4A003

, oraz specjalnie zaprojektowane komponenty do nich.

Uwaga:

Poziom kontroli „komputerów cyfrowych” i towarzyszącego im sprzętu opisany w pozycji X.A.II.001 Wynika z poziomu kontroli innego sprzętu lub systemów, pod warunkiem że:

„komputery cyfrowe” lub towarzyszący im sprzęt mają zasadnicze znaczenie dla działania innego sprzętu lub systemów;

„komputery cyfrowe” lub towarzyszący im sprzęt nie są „elementem o podstawowym znaczeniu” innego sprzętu lub systemów; oraz

N.B.1: Poziom kontroli sprzętu do „przetwarzania sygnałów” lub „wzmacniania obrazów”, specjalnie zaprojektowanego do innego sprzętu i ograniczonego funkcjonalnie do wymogów pracy tego sprzętu wynika z poziomu kontroli innego sprzętu, nawet, gdy wykracza to poza kryterium „elementu o podstawowym znaczeniu”.

N.B.2: W przypadku poziomu kontroli „komputerów cyfrowych” lub towarzyszącego im sprzętu do sprzętu telekomunikacyjnego zob. kategoria 5 część 1 (Telekomunikacja) (9)

„technologia” do „komputerów cyfrowych” i towarzyszącego im sprzętu jest określona w pozycji 4E

komputery elektroniczne i związane z nimi urządzenia oraz „zespoły elektroniczne” i specjalnie zaprojektowane komponenty do nich przystosowane do pracy w temperaturze otoczenia powyżej 343 K (70 °C);

„komputery cyfrowe” łącznie z urządzeniami do „przetwarzania sygnałów” lub „wzmacniania obrazów” o „skorygowanej wydajności szczytowej” („APP”) równej co najmniej 0,0128 teraflopsów ważonych (WT);

następujące „zespoły elektroniczne”, które są specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane w celu poprawy wydajności poprzez agregację procesorów:

1. zaprojektowane tak, aby były zdolne do agregacji w konfiguracjach co najmniej 16 procesorów;

2. nieużywane;

Uwaga 1: Pozycję X.A.II.001.c stosuje się wyłącznie do „zespołów elektronicznych” i programowanych połączeń z “APP”, których moc obliczeniowa nie wykracza poza wartości graniczne wyszczególnione w pozycji X.A.II.001.b, w przypadku ich dostarczania jako „zespoły elektroniczne” w stanie rozłożonym. Pozycja ta nie dotyczy „zespołów elektronicznych”, które ze względu na charakter swojej konstrukcji nie mogą z natury rzeczy być wykorzystywane jako urządzenia towarzyszące, objęte kontrolą według pozycji X.A.II.001.k.

Uwaga 2: Pozycja X.A.II.001.c nie obejmuje kontrolą „zespołów elektronicznych” specjalnie przeznaczonych do wyrobu albo rodziny wyrobów, których maksymalna konfiguracja nie przekracza ograniczeń określonych w pozycji X.A.II.001.b.

nieużywane;

urządzenia do „przetwarzania sygnałów” lub „wzmacniania obrazów” o „skorygowanej wydajności szczytowej” („APP”) równej co najmniej 0,0128 teraflopsów ważonych (WT);

nieużywane;

sprzęt zawierający ‘urządzenia interfejsu końcowego’ przekraczające wartości graniczne określone w pozycji X.A.III.101;

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.A.II.001.i ‘urządzenie interfejsu końcowego’ oznacza urządzenie, za pomocą którego informacje wchodzą do systemu telekomunikacyjnego lub z niego wychodzą, np. telefon, urządzenie do transmisji danych, komputer itp.

sprzęt specjalnie zaprojektowany w celu zapewnienia połączenia zewnętrznego „komputerów cyfrowych” lub towarzyszącego im sprzętu, który pozwala na wymianę danych z szybkościami przekraczającymi 80 MB/s;

Uwaga:

Pozycja X.A.II.001.j. nie obejmuje kontrolą sprzętu zapewniającego połączenia wewnętrzne (np. tablice połączeń, szyny), urządzeń łączących o charakterze pasywnym, „sterowników dostępu do sieci” ani ‘sterowników torów telekomunikacyjnych’.

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.A.II.001.j ‘sterownik toru telekomunikacyjnego’ oznacza interfejs fizyczny sterujący przepływem cyfrowych informacji synchronicznych lub asynchronicznych. Jest to zespół, który może być wbudowany w komputer lub urządzenie telekomunikacyjne z zadaniem zapewniania dostępu do łączy telekomunikacyjnych.

komputery hybrydowe i „zespoły elektroniczne” oraz specjalnie zaprojektowane komponenty do nich zawierające przetworniki analogowo-cyfrowe posiadające wszystkie niżej wymienione cechy:

1. co najmniej 32 kanały; oraz

2. rozdzielczość co najmniej 14 bitów (plus bit znaku) oraz szybkość przetwarzania co najmniej 200 000 Hz.

X.D.II.001

„Oprogramowanie” do kontroli i walidacji „programu”, „oprogramowanie” umożliwiające automatyczną generację „kodów źródłowych” oraz „oprogramowanie” systemów operacyjnych, które jest specjalnie zaprojektowane do urządzeń do „przetwarzania w czasie rzeczywistym”.

„program” do kontroli i walidacji „oprogramowania” wykorzystujący techniki matematyczne i analityczne oraz zaprojektowany lub zmodyfikowany do „programów” posiadających więcej niż 500 000 instrukcji „kodu źródłowego”;

„oprogramowanie” umożliwiające automatyczne generowanie „kodów źródłowych” z danych pozyskanych w trybie on-line z czujników zewnętrznych opisanych w rozporządzeniu (UE) 2021/821; lub

„oprogramowanie” systemu operacyjnego „specjalnie zaprojektowane” do urządzeń do „przetwarzania w czasie rzeczywistym”, które gwarantuje ‘globalny czas opóźnienia przerwania’ poniżej 20 μs.

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.D.II.001 ‘globalny czas opóźnienia przerwania’ oznacza czas potrzebny systemowi komputerowemu na rozpoznanie przerwania spowodowanego zdarzeniem, obsługę tego przerwania i kontekstowe przełączenie na alternatywne zadanie rezydujące w pamięci na wypadek przerwania.

X.D.II.002

„Oprogramowanie” inne niż objęte kontrolą w pozycji 4D001 (10), specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania„urządzeń” objętych kontrolą według pozycji 4A101

X.E.II.001

„Technologia” do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” sprzętu objętego kontrolą w pozycji X.A.II.001 lub „oprogramowania” objętego kontrolą w pozycji X.D.II.001 lub X.D.II.002.

X.E.II.002

„Technologia” do „rozwoju” lub „produkcji” sprzętu zaprojektowanego do ‘wielostrumieniowego przetwarzania danych’.

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.E.II.002 ‘wielostrumieniowe przetwarzanie danych’ oznacza technikę opartą na mikroprogramie lub architekturze sprzętu, umożliwiającą równoczesne przetwarzanie dwóch lub więcej sekwencji danych pod kontrolą jednej lub kilku sekwencji instrukcji za pomocą takich narzędzi, jak:

1. zespoły o architekturze opartej na jednoinstrukcyjnym przetwarzaniu wielu danych (SIMD), np. procesory wektorowe lub tablicowe;

2. zespoły o architekturze opartej na wielokrotnym jednoinstrukcyjnym przetwarzaniu wielu danych (MSIMD);

3. zespoły o architekturze opartej na wieloinstrukcyjnym przetwarzaniu wielu danych (MIMD), włącznie z procesorami połączonymi bezpośrednio, połączonymi silnie lub połączonymi luźno; lub

4. elementy przetwarzające o strukturze tablicowej, włącznie z tablicami dynamicznymi.

Kategoria III. Część 1 – Telekomunikacja

Uwaga:

Kategoria III. Część 1 nie obejmuje kontrolą towarów przeznaczonych na użytek własny osób fizycznych.

X.A.III.101

Urządzenia telekomunikacyjne.

wszelkie rodzaje urządzeń telekomunikacyjnych, nieobjęte kontrolą według pozycji 5A001.a (11), specjalnie zaprojektowane do pracy poza zakresem temperatur od 219 K (-54 °C) do 397 K (124 °C);

telekomunikacyjne urządzenia i systemy przesyłowe oraz specjalnie zaprojektowane do nich części składowe i osprzęt, posiadające którąkolwiek z niżej wymienionych cech i właściwości lub realizujące którąkolwiek z wymienionych poniżej funkcji:

Uwaga:

Telekomunikacyjne urządzenia przesyłowe:

należące do następujących kategorii, lub ich połączenia:

1. urządzenia radiowe (np. nadajniki, odbiorniki i nadajniki-odbiorniki);

2. urządzenia do zamykania linii;

3. wzmacniacze pośrednie;

4. wzmacniaki;

5. regeneratory;

6. urządzenia kodujące tłumaczenia (transkodery);

7. multipleksy (w tym mutipleksy statystyczne);

8. modulatory/demodulatory (modemy);

9. transmultipleksy (zob. zalecenie CCITT G701);

10. urządzenia do cyfrowego połączenia międzysystemowego ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’;

11. ‘bramy’ i mosty;

12. ‘jednostki dostępu do mediów’; oraz

zaprojektowane do użytku w komunikacji jednokanałowej lub wielokanałowej za pośrednictwem któregokolwiek z poniższych:

1. przewód (linia);

2. kabel koncentryczny;

3. kabel światłowodowy;

4. promieniowanie elektromagnetyczne; lub

5. podwodna fala akustyczna.

1. wykorzystujące techniki cyfrowe, w tym cyfrowe przetwarzanie sygnałów analogowych, i zaprojektowane do pracy z ‘szybkością transmisji danych cyfrowych’ na najwyższym poziomie multipleksu przekraczającą 45 Mbit/s lub ‘całkowitą szybkością transmisji danych cyfrowych’ przekraczającą 90 Mbit/s;

Uwaga:

Pozycja X.A.III.101.b.1 nie obejmuje kontrolą urządzeń specjalnie zaprojektowanych w celu ich wbudowania do jakiegokolwiek systemu satelitarnego przeznaczonego do użytku cywilnego oraz ich eksploatacji w takim systemie.

2. modemy wykorzystujące ‘szerokość pasma jednego kanału głosowego’ o ‘szybkości przesyłania danych’ przekraczającej 9 600 bitów na sekundę;

3. urządzenia do cyfrowego połączenia międzysystemowego ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ o ‘szybkości transmisji danych cyfrowych’ przekraczającej 8,5 Mbit/s na port;

4. urządzenia posiadające którąkolwiek z następujących właściwości:

„sterowniki dostępu do sieci” i związane z nimi wspólne nośniki o szybkości transmisji danych cyfrowych’ przekraczającej 33 Mbit/s; lub

‘sterowniki kanału komunikacyjnego’ z wyjściem cyfrowym o szybkości przesyłania danych’ przekraczającej 64 000 bitów/s na kanał;

Uwaga:

Jeżeli jakiekolwiek nieobjęte kontrolą urządzenie zawiera „sterownik dostępu do sieci”, nie może ono posiadać żadnego rodzaju interfejsu telekomunikacyjnego, z wyjątkiem opisanych w pozycji X.A.III.101.b.4, ale nieobjętych kontrolą według tej pozycji.

5. wykorzystujące „laser” i posiadające którąkolwiek z następujących właściwości:

długość fali nadawczej przekraczająca 1 000 nm; lub

stosujące techniki analogowe i posiadające szerokość pasma przekraczającą 45 MHz;

wykorzystujące techniki koherentnego przekazu optycznego lub koherentnej detekcji optycznej (zwane także technikami heterodyny optycznej lub technikami homodynowymi);

wykorzystujące techniki zwielokrotniania przez rozdzielanie fal; lub

dające ‘wzmocnienie optyczne’;

6. urządzenia radiowe pracujące z częstotliwościami wejściowymi lub wyjściowymi przekraczającymi:

31 GHz w przypadku zastosowań ziemskich stacji satelitarnych; lub

26,5 GHz w przypadku pozostałych zastosowań;

Uwaga:

Pozycja X.A.III.101.b.6 nie obejmuje kontrolą urządzeń do użytku cywilnego zgodnych z przydzielonym przez Międzynarodowy Związek Telekomunikacyjny (ITU) pasmem między 26,5 GHz i 31 GHz.

7. urządzenia radiowe wykorzystujące którekolwiek z następujących:

techniki modulacji kwadraturowej (QAM) powyżej poziomu 4, jeżeli ‘całkowita szybkość transmisji danych cyfrowych’ przekracza 8,5 Mbit/s;

techniki QAM powyżej poziomu 16, jeżeli ‘całkowita szybkość transmisji danych cyfrowych’ nie przekracza 8,5 Mbit/s;

inne techniki modulacji cyfrowej i posiadające ‘efektywność wykorzystania widma’ przekraczającą 3 bit/s/Hz; lub

pracujące w paśmie 1,5 MHz do 87,5 MHz i stosujące techniki adaptacyjne zapewniające tłumienie sygnałów zakłócających na poziomie większym niż 15 dB.

Uwagi:

1. Pozycja X.A.III.101.b.7 nie obejmuje kontrolą urządzeń specjalnie zaprojektowanych w celu ich wbudowania do jakiegokolwiek systemu satelitarnego przeznaczonego do użytku cywilnego oraz ich eksploatacji w takim systemie.

2. Pozycja X.A.III.101.b.7 nie obejmuje kontrolą urządzeń do przekazu radiowego przeznaczonych do pracy w przydzielonym paśmie Międzynarodowego Związku Telekomunikacyjnego (ITU):

spełniającym którekolwiek z poniższych kryteriów:

1. nieprzekraczającym 960 MHz; lub

2. z ‘całkowitą szybkością transmisji danych cyfrowych’ nieprzekraczającą 8,5 Mbit/s; oraz

posiadającym ‘efektywność wykorzystania widma’ nieprzekraczającą 4 bit/s/Hz.

urządzenia przełączające ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ i powiązane systemy sygnalizacyjne (oraz specjalnie zaprojektowane do nich części składowe i osprzęt) posiadające którąkolwiek z niżej wymienionych cech i właściwości lub realizujące którąkolwiek z wymienionych poniżej funkcji:

Uwaga:

Multipleksery statystyczne z cyfrowym wejściem i cyfrowym wyjściem, które umożliwiają przełączanie, traktuje się jako przełączniki „sterowane programem zapisanym w pamięci”.

1. urządzenia lub systemy do ‘przełączania danych (komunikatów)’ zaprojektowane do „pracy w trybie pakietowym” oraz ich zespoły elektroniczne i części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

2. nieużywane;

3. przekierowywanie lub przełączanie pakietów ‘datagramów’;

Uwaga:

Pozycja X.A.III.101.c.3 nie obejmuje kontrolą sieci ograniczonych do korzystania wyłącznie ze „sterowników dostępu do sieci” ani do samych „sterowników dostępu do sieci”.

4. nieużywane;

5. priorytet wielopoziomowy i pierwszeństwo dla przełączania obwodu;

Uwaga:

Pozycja X.A.III.101.c.5 nie obejmuje kontrolą jednopoziomowego pierwszeństwa połączeń.

6. zaprojektowane do automatycznego wyłączania komórkowych połączeń radiowych z innymi przełącznikami komórkowymi lub do automatycznego połączenia ze scentralizowaną bazą danych abonentów wspólną dla więcej niż jednego przełącznika;

7. zawierające urządzenia do cyfrowego połączenia międzysystemowego ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ o ‘szybkości transmisji danych cyfrowych’ przekraczającej 8,5 Mbit/s na port;

8. ‘sygnalizacja za pośrednictwem wspólnego kanału’ pracująca w trybie niestowarzyszonym albo półstowarzyszonym;

9. ‘adaptacyjny dynamiczny wybór trasy’;

10. będące przełącznikami pakietów, przełącznikami obwodów i routerami z portami lub liniami przekraczającymi którekolwiek z następujących wartości:

‘szybkości przesyłania danych’ na poziomie 64 000 bit/s na kanał dla ‘sterownika toru komunikacyjnego’; lub

Uwaga:

Pozycja X.A.III.101.c.10.a nie obejmuje kontrolą multipleksowych złożonych połączeń składających się wyłącznie z torów komunikacyjnych, które nie są indywidualnie sterowane przez X.A.III.101.b.1.

‘szybkości transmisji danych cyfrowych’ na poziomie 33 Mbit/s dla „sterownika dostępu do sieci” i powiązanych wspólnych nośników;

Uwaga:

Pozycja X.A.III.101.c.10 nie obejmuje kontrolą przełączników pakietów ani routerów z portami lub liniami nieprzekraczającymi limitów określonych w pozycji X.A.III.101.c.10.

11. ‘komutacja optyczna’;

12. wykorzystujące techniki ‘asynchronicznego trybu przesyłania’ (‘ATM’);

światłowody i kable światłowodowe o długości większej niż 50 m zaprojektowane do pracy w trybie pojedynczym;

sterownik scentralizowanej sieci posiadający wszystkie niżej wymienione cechy:

1. otrzymuje dane z węzłów; oraz

2. przetwarza te dane w celu zapewnienia sterowania ruchem bez konieczności podejmowania decyzji przez operatora, a tym samym dokonuje ‘adaptacyjnego dynamicznego wyboru trasy’;

Uwaga 1: Pozycja X.A.III.101.e. nie obejmuje przypadków decyzji o zmianie trasy podejmowanych na podstawie określonych wcześniej informacji.

Uwaga 2: Pozycja X.A.III.101.e nie wyklucza sterowania ruchem jako funkcji przewidywalnych statystycznych warunków ruchu.

fazowane układy antenowe pracujące powyżej 10,5 GHz, zawierające elementy czynne oraz rozproszone części składowe, zaprojektowane w celu umożliwienia elektronicznego sterowania kształtowaniem i wyznaczaniem wiązki, z wyjątkiem systemów lądowania według wskazań przyrządów spełniających normy Organizacji Międzynarodowego Lotnictwa Cywilnego (ICAO) (mikrofalowe systemy lądowania (MLS));

urządzenia łączności ruchomej inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821 oraz ich „zespoły elektroniczne” i części składowe; lub

urządzenia łączności radiowej zaprojektowane do użytku na częstotliwościach równych lub przekraczających 19,7 GHz oraz ich części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.A.III.101:

1) ‘Asynchroniczny tryb przesyłania’ (‘ATM’) oznacza tryb przesyłania polegający na tym, że informacja jest organizowana w komórkach; asynchroniczność należy rozumieć w tym sensie, że rekurencja komórek zależy od wymaganej lub chwilowej szybkości transmisji bitów.

2) ‘Szerokość pasma jednego kanału głosowego’ oznacza urządzenia do transmisji danych zaprojektowane do eksploatacji w jednym kanale głosowym o częstotliwości 3 100 Hz, zgodnie z definicją w zaleceniu CCITT G.151.

3) ‘Sterownik toru telekomunikacyjnego’ oznacza interfejs fizyczny sterujący przepływem cyfrowych informacji synchronicznych lub asynchronicznych. Jest to zespół, który może być wbudowany w komputer lub urządzenie telekomunikacyjne z zadaniem zapewniania dostępu do łączy telekomunikacyjnych.

4) ‘Datagram’ oznacza samodzielną, niezależną jednostkę danych zawierającą informacje wystarczające do przekierowania jej ze źródła do docelowego urządzenia terminala danych bez polegania na wcześniejszych wymianach między tym źródłem i docelowym urządzeniem terminala danych oraz siecią przesyłową.

5) ‘Fast select’ oznacza funkcję mającą zastosowanie do połączeń wirtualnych, która umożliwia urządzeniu terminala danych rozszerzenie możliwości przekazywania danych w ramach konfiguracji połączenia i rozliczanie ‘pakietów’ wykraczające poza podstawowe możliwości połączenia wirtualnego.

6) ‘Brama’ oznacza funkcję, realizowaną przez dowolne połączenie urządzeń i „oprogramowania”, polegającą na dokonywaniu konwersji konwencji dotyczących przedstawiania, przetwarzania lub przekazywania informacji stosowanych w jednym systemie w odpowiednie, ale różniące się konwencje stosowane w innym systemie.

7) ‘Sieć cyfrowa z integracją usług’ (ISDN) oznacza jednolitą sieć cyfrową typu koniec-koniec, w której dane pochodzące ze wszystkich rodzajów komunikacji (np. głos, tekst, dane, obrazy nieruchome i ruchome) są przesyłane z jednego portu (terminala) w ramach wymiany (przełączania) za pośrednictwem jednej linii dostępowej do abonenta i od abonenta.

8) ‘Pakiet’ oznacza grupę cyfr binarnych zawierającą dane i sygnały sterujące, która jest przełączana jako całość. Dane, sygnały sterujące i informacje kontrolne o ewentualnych błędach są ułożone w określonym formacie.

9) ‘Sygnalizacja za pośrednictwem wspólnego kanału’ oznacza przekazywanie informacji sterujących (sygnalizacji) za pośrednictwem kanału odrębnego od kanału wykorzystywanego do komunikatów. Kanał sygnalizacji zazwyczaj steruje wieloma kanałami komunikatów.

10) ‘Szybkość przesyłania danych’ oznacza szybkość, zgodnie z definicją podaną w zaleceniu 53–36 ITU, uwzględniającą fakt, że w przypadku modulacji niebitowej, szybkości w bodach i bitach na sekundę są różne. Uwzględnia bity do kodowania, kontrolne i synchronizujące.

11) ‘Adaptacyjny dynamiczny wybór trasy’ oznacza automatyczną zmianę trasy w ruchu na podstawie odbieranych i analizowanych informacji o bieżących warunkach w sieci.

12) ‘Jednostka dostępu do mediów’ oznacza urządzenie zawierające co najmniej jeden interfejs komunikacyjny („sterownik dostępu do sieci”, sterownik toru telekomunikacyjnego”, modem lub magistralę komputerową) służący do połączenia urządzenia końcowego do sieci.

13) ‘Efektywność wykorzystania widma’ oznacza ‘szybkość transmisji danych cyfrowych’ [bity/s] / 6 dB widmowej szerokości pasma w Hz.

14) ‘Sterowanie programem zapisanym w pamięci’ oznacza sterowanie za pomocą instrukcji zapisanych w pamięci elektronicznej, które procesor może wykonywać w celu kierowania parametrami uprzednio określonych funkcji.

Uwaga:

Urządzenie może być ‘sterowane programem zapisanym w pamięci’ niezależnie od tego, czy pamięć elektroniczna jest wewnętrzna, czy też zewnętrzna względem urządzenia.

X.B.III.101

Telekomunikacyjne urządzenia testujące, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

X.C.III.101

Preformy ze szkła lub z dowolnych innych materiałów zoptymalizowane na potrzeby produkcji światłowodów objętych kontrolą według pozycji X.A.III.101.

X.D.III.101

„Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane na potrzeby „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.A.III.101 i X.B.III.101, oraz „oprogramowanie” do adaptacyjnego dynamicznego wyboru trasy, zgodnie z poniższym opisem:

„oprogramowanie”, inne niż w postaci wykonywalnej maszynowo, specjalnie zaprojektowane do ‘adaptacyjnego dynamicznego wyboru trasy’;

nieużywane.

X.E.III.101

„Technologie” do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.A.III.101 lub X.B.III.101, lub „oprogramowanie” objęte kontrolą według pozycji X.D.III.101, oraz inne następujące „technologie”:

specjalne „technologie”, takie jak:

1. „technologia” przetwarzania i nakładania powłok na światłowody specjalnie zaprojektowane tak, aby nadawały się do stosowania pod wodą;

2. „technologia” na potrzeby „rozwoju” urządzeń wykorzystujących techniki ‘synchronicznej hierarchii cyfrowej’ (‘SDH’) lub ‘synchronicznej sieci optycznej’ (‘SONET’).

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.E.III.101:

1) ‘Synchroniczna hierarchia cyfrowa’ (Synchronous digital hierarchy, ‘SDH’) oznacza hierarchię cyfrową zapewniającą środki zarządzania, multipleksu i dostępu do różnych form ruchu cyfrowego przy wykorzystaniu formatu synchronicznej transmisji na różnych rodzajach nośników. Format ten opiera się na module transportu synchronicznego (Synchronous Transport Module, STM) zdefiniowanym w zaleceniach CCITT G.703, G.707, G.708, G.709 oraz innych, które nie zostały jeszcze opublikowane. Wskaźnikiem pierwszego poziomu ‘SDH’ jest 155,52 Mbit/s.

2) ‘Synchroniczna sieć optyczna’ (Synchronous optical network, SONET) oznacza sieć zapewniającą środki zarządzania, multipleksu i dostępu do różnych form ruchu cyfrowego przy wykorzystaniu formatu synchronicznej transmisji na światłowodach. Format ten stanowi północnoamerykańską wersję ‘SDH’ i korzysta on również z modułu transportu synchronicznego (STM). Jako podstawowy moduł transportowy wykorzystuje on jednak synchroniczny transport sygnału (Synchronous Transport Signal, STS) ze wskaźnikiem pierwszego poziomu wynoszącym 51,81 Mbit/s. Trwa proces integracji norm SONET z normami ‘SDH’.

Kategoria III. Część 2 – Ochrona informacji

Uwaga:

Kategoria III. Część 2 nie obejmuje kontrolą towarów przeznaczonych na użytek własny osób fizycznych.

X.A.III.201

Następujące urządzenia:

nieużywane;

towary sklasyfikowane jako szyfrowanie dla rynku masowego zgodnie z uwagą dotyczącą kryptografii – uwaga 3 do kategorii 5 część 2 (12).

X.D.III.201

Następujące „oprogramowanie” na potrzeby „ochrony informacji”:

Uwaga:

Pozycja ta nie obejmuje kontrolą „oprogramowania” zaprojektowanego lub zmodyfikowanego w celu ochrony przed szkodliwymi uszkodzeniami komputera, np. wirusami, w przypadku gdy stosowanie „kryptografii” ogranicza się do uwierzytelnienia, podpisu cyfrowego lub deszyfrowania danych lub plików.

nieużywane;

„oprogramowanie” sklasyfikowane jako „oprogramowanie” szyfrujące dla rynku masowego zgodnie z uwagą dotyczącą kryptografii – uwaga 3 do kategorii 5 część 2 (13).

X.E.III.201

Następujące „technologie”„ochrony informacji” zgodnie z uwagą ogólną do technologii:

nieużywane;

„technologie”, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821, na potrzeby „użytkowania” towarów dla rynku masowego objętych kontrolą według pozycji X.A.III.201.c lub „oprogramowanie” dla rynku masowego objęte kontrolą według pozycji X.D.III.201.c.

Kategoria IV – Czujniki i lasery

X.A.IV.001

Morskie lub naziemne urządzenia akustyczne zdolne do wykrywania lub lokalizacji obiektów lub elementów podwodnych lub do pozycjonowania statków nawodnych lub pojazdów podwodnych; oraz specjalnie zaprojektowane części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

X.A.IV.002

Następujące czujniki optyczne:

następujące lampowe wzmacniacze obrazu i specjalnie do nich zaprojektowane elementy:

1. lampowe wzmacniacze obrazu posiadające wszystkie poniższe cechy charakterystyczne:

reakcja szczytowa w zakresie długości fal z przedziału powyżej 400 nm, ale nieprzekraczającej 1 050 nm;

płytka mikrokanalikowa do wzmacniania obrazów elektronicznych z otworkami w odstępach (odległość między środkami otworków) mniejszych niż 25 μm; oraz

posiadające którąkolwiek z poniższych cech charakterystycznych:

1. fotokatoda S-20, S-25 lub alkaliczna (wielopierwiastkowa); lub

2. fotokatoda GaAs lub GaInAs;

2. specjalnie zaprojektowane płytki mikrokanalikowe posiadające obie poniższe cechy charakterystyczne:

co najmniej 15 000 kanałów na płytkę; oraz

otworki w odstępach (odległość między środkami otworków) mniejszych niż 25 μm;

urządzenia do widzenia bezpośredniego działające w zakresie promieniowania widzialnego lub podczerwonego, wyposażone w lampowe wzmacniacze obrazu posiadające cechy charakterystyczne wymienione w pozycji X.A.IV.002.a.1.

X.A.IV.003

Następujące kamery:

kamery spełniające kryteria uwagi 3 do pozycji 6A003.b.4 (14);

nieużywane;

X.A.IV.004

Następujące urządzenia optyczne:

Uwaga:

Pozycja X.A.IV.004 nie obejmuje kontrolą filtrów optycznych ze stałymi szczelinami powietrznymi ani filtrów typu Lyot.

filtry optyczne:

1. dla fal o długości przekraczającej 250 nm, złożone z wielowarstwowych powłok optycznych i posiadające jedną z następujących cech charakterystycznych:

szerokości pasma równe lub mniejsze niż 1 nm połowy natężenia pełnej szerokości (Full Width Half Intensity, FWHI) i transmisja szczytowa wynosząca co najmniej 90 %; lub

szerokości pasma równe lub mniejsze niż 0,1 nm FWHI i transmisja szczytowa wynosząca co najmniej 50 %;

2. dla fal o długości przekraczającej 250 nm, posiadające wszystkie następujące cechy charakterystyczne:

przestrajalne w zakresie widma wynoszącym co najmniej 500 nm;

z chwilowym filtrem środkowoprzepustowym wynoszącym 1,25 nm lub mniej;

długość fali możliwa do ponownego ustawienia w ciągu 0,1 ms z dokładnością do 1 nm lub lepszą w przestrajalnym zakresie widma; oraz

pojedyncza transmisja szczytowa wynosząca co najmniej 91 %;

3. przełączniki (filtry) nieprzezroczystości optycznej o polu widzenia wynoszącym co najmniej 30o oraz czasie reakcji równym lub mniejszym niż 1 ns;

kabel z ‘włókien domieszkowanych fluorkiem’ lub jego światłowody, z tłumieniem mniejszym niż 4 dB/km w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1 000 nm, ale nieprzekraczającej 3 000 nm.

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.A.IV.004.b ‘włókna domieszkowane fluorkiem’ oznaczają włókna wytwarzane ze związków fluorku luzem.

X.A.IV.005

Następujące „lasery”:

„lasery” na dwutlenku węgla (CO2) spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:

1. ciągła (CW) moc wyjściowa przekraczająca 10 kW;

2. wyjście impulsowe z „czasem trwania impulsu” przekraczającym 10 μs; oraz

przeciętna moc wyjściowa przekraczająca 10 kW; lub

„moc szczytowa” impulsu przekraczająca 100 kW; lub

3. wyjście impulsowe z „czasem trwania impulsu” nieprzekraczającym 10 μs; oraz

energia impulsu powyżej 5 J na impuls i „moc szczytowa” przekraczająca 2,5 kW; lub

przeciętna moc wyjściowa przekraczająca 2,5 kW;

następujące lasery półprzewodnikowe:

1. indywidualne „lasery” półprzewodnikowe działające w trybie z pojedynczym przejściem poprzecznym, o następujących cechach charakterystycznych:

przeciętna moc wyjściowa przekraczająca 100 mW; lub

długość fali przekraczająca 1 050 nm;

2. indywidualne „lasery” półprzewodnikowe działające w trybie z wielokrotnym przejściem poprzecznym lub zestawy indywidualnych „laserów” półprzewodnikowych, o długości fali przekraczającej 1 050 nm;

„lasery” rubinowe o energii wyjściowej przekraczającej 20 J na impuls;

„nieprzestrajalne”„lasery impulsowe” o długości fali wyjściowej przekraczającej 975 nm, ale nieprzekraczającej 1 150 nm, i posiadające którąkolwiek z następujących cech charakterystycznych:

1. „czas trwania impulsu” równy lub przekraczający 1 ns, ale nieprzekraczający 1 μs, i posiadające którąkolwiek z następujących cech charakterystycznych:

sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i mający którąkolwiek z następujących cech charakterystycznych:

1. ‘sprawność całkowita’ przekraczająca 12 % i „średnia moc wyjściowa” przekraczająca 10 W i zdolne do pracy przy częstotliwości powtarzania impulsów większej niż 1 kHz; lub

2. „średnia moc wyjściowa” przekraczająca 20 W; lub

sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i mający którąkolwiek z następujących cech charakterystycznych:

1. ‘sprawność całkowita’ przekraczająca 18 % i „średnia moc wyjściowa” przekraczająca 30 W;

2. „moc szczytowa” przekraczająca 200 MW; lub

3. „średnia moc wyjściowa” przekraczająca 50 W; lub

2. „czas trwania impulsu” przekraczający 1 μs i mające którąkolwiek z następujących cech charakterystycznych:

sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i mający którąkolwiek z następujących cech charakterystycznych:

1. ‘sprawność całkowita’ przekraczająca 12 % i „średnia moc wyjściowa” przekraczająca 10 W i zdolne do pracy przy częstotliwości powtarzania impulsów większej niż 1 kHz; lub

2. „średnia moc wyjściowa” przekraczająca 20 W; lub

sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i mający którąkolwiek z następujących cech charakterystycznych:

1. ‘sprawność całkowita’ przekraczająca 18 % i „średnia moc wyjściowa” przekraczająca 30 W; lub

2. „średnia moc wyjściowa” przekraczająca 500 W;

„nieprzestrajalne”„lasery CW” (z falą ciągłą) o długości fali wyjściowej przekraczającej 975 nm, ale nieprzekraczającej 1 150 nm, i posiadające którąkolwiek z następujących cech charakterystycznych:

1. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i mający którąkolwiek z następujących cech charakterystycznych:

‘sprawność całkowita’ przekraczająca 12 % i „średnia moc wyjściowa” przekraczająca 10 W i zdolne do pracy przy częstotliwości powtarzania impulsów większej niż 1 kHz; lub

„średnia moc wyjściowa” przekraczająca 50 W; lub

2. sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i mający którąkolwiek z następujących cech charakterystycznych:

‘sprawność całkowita’ przekraczająca 18 % i „średnia moc wyjściowa” przekraczająca 30 W; lub

„średnia moc wyjściowa” przekraczająca 500 W;

Uwaga:

Pozycja X.A.IV.005.e.2.b nie obejmuje kontrolą „laserów” przemysłowych działających w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego o mocy wyjściowej nieprzekraczającej 2 kW i o masie całkowitej większej niż 1 200 kg. Do celów niniejszej uwagi masa całkowita obejmuje wszystkie części składowe wymagane do funkcjonowania „lasera”, tzn. „laser”, zasilacz, wymiennik ciepła, natomiast nie obejmuje kontrolą zewnętrznych urządzeń optycznych do kondycjonowania lub wysyłania wiązki.

„nieprzestrajalne”„lasery” o długości fali przekraczającej 1 400 nm, ale nieprzekraczającej 1 555 nm, i posiadające którąkolwiek z następujących cech charakterystycznych:

1. energia wyjściowa przekraczająca 100 mJ na impuls i „moc szczytowa” impulsu przekraczająca 1 W; lub

2. średnia lub ciągła (CW) moc wyjściowa przekraczająca 1 W;

„lasery” na swobodnych elektronach.

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.A.IV.005 ‘sprawność całkowitą’ definiuje się jako stosunek mocy wyjściowej „lasera” (lub „średniej mocy wyjściowej”) do całkowitej mocy wejściowej wymaganej do funkcjonowania „lasera”, w tym zasilania/kondycjonowania mocy oraz kondycjonowania termicznego/wymiennika ciepła.

X.A.IV.006

Następujące „magnetometry”, „nadprzewodzące” czujniki elektromagnetyczne i specjalnie zaprojektowane do nich części składowe:

„magnetometry”, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821, charakteryzujące się ‘czułością’ mniejszą (lepszą) niż 1,0 nT (średnia kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy z Hz;

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.A.IV.006.a ‘czułość’ (poziom szumu) oznacza średni pierwiastek kwadratowy ograniczonego przez urządzenie progu szumu, który jest najniższym sygnałem dającym się zmierzyć.

„nadprzewodzące” czujniki elektromagnetyczne, części składowe wytworzone z „nadprzewodzących” materiałów:

1. przeznaczone do pracy w temperaturach poniżej ‘temperatury krytycznej’ co najmniej jednego z ich elementów „nadprzewodzących” (włącznie z urządzeniami, których działanie jest oparte na zjawisku Josephsona, lub urządzeniami „nadprzewodzącymi” działającymi na zasadzie interferencji kwantowej (SQUIDS));

2. przeznaczone do wykrywania zmian pola elektromagnetycznego przy częstotliwościach wynoszących 1 kHz lub mniej; oraz

3. posiadające jedną z następujących cech charakterystycznych:

wyposażone w cienkowarstwowe elementy SQUIDS o minimalnym wymiarze charakterystycznym poniżej 2 μm i zaopatrzone w odpowiednie wejściowe i wyjściowe obwody sprzęgające;

przeznaczone do pracy przy szybkości zmian pola magnetycznego przekraczającej 1 x 106 strumienia magnetycznego na sekundę;

przeznaczone do działania w ziemskim polu magnetycznym bez ekranowania magnetycznego; lub

mające współczynnik temperaturowy poniżej (mniejszy niż) 0,1 strumienia magnetycznego/K.

X.A.IV.007

Następujące grawimetry do użytku naziemnego, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821:

mające dokładność statyczną poniżej (lepszą niż) 100 μGal; lub

będące grawimetrem z elementem kwarcowym (Wordena).

X.A.IV.008

Następujące radarowe systemy, urządzenia i główne części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821, oraz specjalnie zaprojektowane do nich części składowe:

pokładowe urządzenia radarowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821, oraz specjalnie zaprojektowane do nich części składowe;

radary „laserowe”„klasy kosmicznej” lub urządzenia optyczne (Light Detection and Ranging, LIDAR) „specjalnie zaprojektowane” do badań lub do obserwacji meteorologicznych;

polepszające widzenie systemy radarowego obrazowania pracujące w częstotliwościach fal milimetrowych, specjalnie zaprojektowane do wiropłatów i posiadające wszystkie następujące cechy charakterystyczne:

1. praca na częstotliwości 94 GHz;

2. średnia moc wyjściową poniżej 20 mW;

3. szerokość wiązki radarowej wynosząca 1 stopień; oraz

4. zakres działania wynoszący co najmniej 1 500 m.

X.A.IV.009

Następujące specjalne urządzenia przetwarzające:

sejsmiczne urządzenia detekcyjne nieobjęte kontrolą według pozycji X.A.IV.009.c;

kamery telewizyjne zabezpieczone przed promieniowaniem, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821; lub

sejsmiczne systemy wykrywania wtargnięć, które wykrywają, klasyfikują i określają wpływ na źródło wykrytego sygnału.

X.B.IV.001

Urządzenia, w tym narzędzia, matryce, uchwyty lub mierniki, oraz inne specjalnie zaprojektowane do nich części składowe i osprzęt, specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane na potrzeby któregokolwiek z poniższych:

produkcji lub kontroli:

1. magnesów (wigglers) do „laserów” na swobodnych elektronach;

2. fotoinjektorów do „laserów” na swobodnych elektronach;

korekty, do wymaganych tolerancji, podłużnego pola magnetycznego „laserów” na swobodnych elektronach.

X.C.IV.001

Czujnikowe włókna optyczne zmodyfikowane strukturalnie w taki sposób, aby ich ‘długość zdudnień’ (beat length) była mniejsza niż 500 mm (wysoka dwójłomność), lub materiały do czujników optycznych nieopisane w pozycji 6C002.b (15) i o zawartości cynku wynoszącej co najmniej 6 % według ‘ułamka molowego’.

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.C.IV.001:

1) ‘Ułamek molowy’ definiowany jest jako stosunek moli ZnTe do sumy moli CdTe i ZnTe znajdujących się w krysztale.

2) ‘Długość zdudnień’ (beat length) oznacza odległość, którą dwa ortogonalnie polaryzowane sygnały, początkowo w fazie, muszą przemierzyć, aby osiągnąć różnicę w fazie wynoszącą 2 Pi radianów.

X.C.IV.002

Następujące materiały optyczne:

następujące materiały o niskiej absorpcji optycznej:

1. związki fluorku luzem zawierające składniki o czystości wynoszącej co najmniej 99,999 %; lub

Uwaga:

Pozycja X.C.IV.002.a.1 obejmuje kontrolą fluorki cyrkonu lub glinu oraz ich odmiany.

2. szkło z fluorku luzem wykonane ze związków objętych kontrolą według pozycji 6C004.e.1 (16);

‘preformy światłowodów’ wykonane ze związków fluorku luzem zawierające składniki o czystości wynoszącej co najmniej 99,999 %, specjalnie zaprojektowane do produkcji ‘włókien domieszkowanych fluorkiem’ objętych kontrolą według pozycji X.A.IV.004.b.

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.C.IV.002:

1) ‘Włókna domieszkowane fluorkiem’ oznaczają włókna wytwarzane ze związków fluorku luzem.

2) ‘Preformy światłowodów’ oznaczają pręty, sztaby lub pręciki ze szkła, tworzyw sztucznych lub innych materiałów, które zostały specjalnie przetworzone do wykorzystania w produkcji światłowodów. Właściwości preformy determinują podstawowe parametry wytwarzanych z nich światłowodów.

X.D.IV.001

„Oprogramowanie”, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821, specjalnie zaprojektowane do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” towarów objętych kontrolą według pozycji 6A002, 6A003

, X.A.IV.001, X.A.IV.006, X.A.IV.007 lub X.A.IV.008.

X.D.IV.002

„Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane do „rozwoju” lub „produkcji” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.A.IV.002, X.A.IV.004 lub X.A.IV.005.

X.D.IV.003

Następujące inne „oprogramowanie”:

„oprogramowanie” stanowiące „programy” na potrzeby służb kontroli ruchu lotniczego (Air Traffic Control, ATC) zainstalowane na komputerach ogólnego przeznaczenia znajdujących się w centrach kontroli ruchu lotniczego i umożliwiające automatyczne przekazywanie danych docelowych radaru pierwotnego (jeżeli nie są one skorelowane z danymi wtórnego radaru dozorowania (SSR)) z przyjmującego centrum ATC do innego centrum ATC;

„oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane na potrzeby sejsmicznych systemów wykrywania wtargnięć objętych pozycją X.A.IV.009.c; lub

„kod źródłowy” specjalnie zaprojektowany do sejsmicznych systemów wykrywania wtargnięć objętych pozycją X.A.IV.009.c.

X.E.IV.001

„Technologie” do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.A.IV.001, X.A.IV.006, X.A.IV.007, X.A.IV.008 lub X.A.IV.009.c.

X.E.IV.002

„Technologie” do „rozwoju” lub „produkcji” urządzeń, materiałów lub „oprogramowania” objętych kontrolą według pozycji X.A.IV.002, X.A.IV.004, lub X.A.IV.005, X.B.IV.001, X.C.IV.001, X.C.IV.002, lub X.D.IV.003.

X.E.IV.003

Następujące inne „technologie”:

technologie wytwarzania elementów optycznych na potrzeby seryjnej produkcji optycznych części składowych z prędkością przekraczającą 10 m2 pola powierzchni na rok na dowolnym pojedynczym wrzecionie i posiadające wszystkie następujące cechy charakterystyczne:

1. pole przekraczające 1 m2; oraz

2. kształt powierzchni przekraczający λ/10 (średnia kwadratowa) dla określonej długości fali;

„technologie” dla filtrów optycznych o szerokości pasma równej lub mniejszej niż 10 nm, polu widzenia (FOV) przekraczającym 40o i rozdzielczości przekraczającej 0,75 par linii na miliradian;

„technologie” do „rozwoju” lub „produkcji” kamer objętych kontrolą według pozycji X.A.IV.003;

„technologie”„niezbędne” do „rozwoju” lub „produkcji”„magnetometrów” innych niż trzyosiowe, w których zastosowano bramkowanie strumienia, lub systemów złożonych z takich „magnetometrów”, posiadających jedną z następujących cech charakterystycznych:

1. ‘czułość’ mniejsza (lepsza) niż 0,05 nT (średnia kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy z Hz przy częstotliwościach poniżej 1 Hz; lub

2. ‘czułość’ mniejsza (lepsza) niż 1 x 10-3 nT (średnia kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy z Hz przy częstotliwościach 1 Hz lub większych;

„technologie”„niezbędne” do „rozwoju” lub „produkcji” urządzeń do konwersji promieniowania podczerwonego na światło widzialne, posiadających wszystkie następujące cechy charakterystyczne:

1. reakcja w zakresie długości fal z przedziału powyżej 700 nm, ale nieprzekraczającej 1 500 nm; oraz

2. połączenie fotodetektora podczerwieni, diody elektroluminescencyjnej (OLED) i nanokryształu do celów konwersji promieniowania podczerwonego w światło widzialne.

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.E.IV.003 ‘czułość’ (poziom szumu) oznacza średni pierwiastek kwadratowy ograniczonego przez urządzenie progu szumu, który jest najniższym sygnałem dającym się zmierzyć.

Kategoria V – Nawigacja i awionika

X.A.V.001

Pokładowe urządzenia komunikacyjne, wszystkie inercyjne systemy nawigacyjne „statku powietrznego” oraz inne urządzenia elektroniki lotniczej, w tym części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

Uwaga 1: Pozycja X.A.V.001 nie obejmuje kontrolą zestawów słuchawkowych ani mikrofonów.

Uwaga 2: Pozycja X.A.V.001 nie obejmuje kontrolą towarów przeznaczonych na użytek własny osób fizycznych.

X.B.V.001

Inne urządzenia specjalnie zaprojektowane do testowania, kontroli lub „produkcji” urządzeń nawigacyjnych i urządzeń elektroniki lotniczej.

X.D.V.001

„Oprogramowanie”, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821, do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń nawigacyjnych, pokładowych urządzeń komunikacyjnych i innych urządzeń elektroniki lotniczej.

X.E.V.001

„Technologie”, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821, do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń nawigacyjnych, pokładowych urządzeń komunikacyjnych i innych urządzeń elektroniki lotniczej.

Kategoria VI – Urządzenia okrętowe

X.A.VI.001

Następujące jednostki pływające, systemy okrętowe lub wyposażenie morskie i specjalnie zaprojektowane do nich części składowe, oraz części składowe i osprzęt:

następujące podwodne systemy wizyjne:

1. systemy telewizyjne (składające się z kamery, świateł, urządzeń monitorujących i do przesyłania sygnałów) o rozdzielczości granicznej mierzonej w powietrzu powyżej 500 linii i specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane w taki sposób, że można nimi zdalnie sterować z pojazdów podwodnych; lub

2. podwodne kamery telewizyjne o rozdzielczości granicznej mierzonej w powietrzu powyżej 700 linii;

Uwaga techniczna:

W telewizji rozdzielczość graniczna jest miarą rozdzielczości poziomej, wyrażanej zazwyczaj jako maksymalna liczba linii mieszcząca się w wysokości obrazu, rozróżnianych na karcie testowej, określana według normy IEEE 208/1960 lub dowolnej równoważnej normy.

aparaty fotograficzne specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do stosowania pod wodą, na błony filmowe formatu 35 mm lub większego, i posiadające funkcję automatycznego ustawiania ostrości lub zdalnego ustawiania ostrości specjalnie zaprojektowane do stosowania pod wodą;

stroboskopowe instalacje oświetleniowe, specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do pracy pod wodą, o energii strumienia świetlnego większej niż 300 J na jeden błysk;

inne podwodne urządzenia rejestracji obrazu, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

nieużywane;

jednostki pływające (nawodne lub podwodne), w tym łodzie pneumatyczne, oraz specjalnie zaprojektowane do nich części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

Uwaga:

Pozycja X.A.VI.001.f nie obejmuje kontrolą jednostek pływających na tymczasowym postoju, wykorzystywanych do transportu prywatnego lub do przewozu pasażerów lub towarów z obszaru celnego Unii lub przez ten obszar.

silniki okrętowe (zarówno wewnętrzne, jak i zewnętrzne) oraz silniki okrętów podwodnych oraz specjalnie zaprojektowane do nich części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

samodzielne podwodne aparaty tlenowe (akwalung) i powiązane wyposażenie, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

kamizelki ratunkowe, naboje służące do nadmuchiwania, kompasy do nurkowania i komputery do nurkowania;

Uwaga:

Pozycja X.A.VI.001.i nie obejmuje kontrolą towarów przeznaczonych na użytek własny osób fizycznych.

podwodne urządzenia świetlne i napędowe; lub

Uwaga:

Pozycja X.A.VI.001.j nie obejmuje kontrolą towarów przeznaczonych na użytek własny osób fizycznych.

sprężarki powietrza i systemy filtracji powietrza specjalnie zaprojektowane do napełniania cylindrów powietrza.

X.D.VI.001

„Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.A.VI.001.

X.D.VI.002

„Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane do eksploatacji bezzałogowych pojazdów podwodnych wykorzystywanych w przemyśle naftowym i gazowym.

X.E.VI.001

„Technologie” do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.A.VI.001.

Kategoria VII – Kosmonautyka, aeronautyka i napęd

X.A.VII.001

Silniki wysokoprężne oraz ciągniki i specjalnie do nich zaprojektowane podzespoły, inne niż określone w CML lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821:

silniki wysokoprężne, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821, do samochodów ciężarowych, ciągników i zastosowań w motoryzacji, o całkowitej mocy użytecznej wynoszącej co najmniej 298 kW;

ciągniki kołowe do użytku poza drogami publicznymi o nośności wynoszącej co najmniej 9 ton; oraz główne części składowe i osprzęt, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

ciągniki drogowe do naczep, z jedną lub dwiema osiami tylnymi o nacisku nominalnym wynoszącym co najmniej 9 ton na oś oraz specjalnie zaprojektowane główne części składowe.

Uwaga:

Pozycje X.A.VII.001.b i X.A.VII.001.c nie obejmują kontrolą pojazdów na tymczasowym postoju, wykorzystywanych do transportu prywatnego lub do przewozu pasażerów lub towarów z obszaru celnego Unii lub przez ten obszar.

X.A.VII.002

„Silniki z turbiną gazową oraz części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

nieużywane;

nieużywane.

silniki lotnicze z turbiną gazową oraz specjalnie zaprojektowane do nich części składowe”.

nieużywane;

części składowe specjalnie zaprojektowane do urządzeń do oddychania dla samolotów z kabiną ciśnieniową, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

X.A.VII.003

Silniki statków powietrznych, inne niż określone w pozycji X.A.VII.002, we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821:

silniki spalinowe z tłokami wykonującymi ruch posuwisto-zwrotny lub obrotowy; lub

silniki elektryczne.

Uwaga techniczna:

Do celów pozycji X.A.VII.003 statki powietrzne obejmują: samoloty, bezzałogowe statki powietrzne, śmigłowce, wiatrakowce, hybrydowe statki powietrzne lub modele sterowane radiowo.

X.B.VII.001

Urządzenia do badań wibracji oraz specjalnie zaprojektowane części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

Uwaga:

Pozycja X.B.VII.001. obejmuje kontrolą wyłącznie urządzenia do „rozwoju” lub „produkcji”. Nie obejmuje ona kontrolą systemów monitorowania stanu.

X.B.VII.002

Następujące specjalnie zaprojektowane urządzenia, oprzyrządowanie lub osprzęt do produkcji lub pomiarów wirujących i nieruchomych łopatek turbin lub bandaży do wirników:

zautomatyzowane urządzenia wykorzystujące inne niż mechaniczne metody pomiaru grubości ścianki profili łopatkowych;

oprzyrządowanie, osprzęt lub urządzenia pomiarowe na potrzeby procesów wiercenia otworów za pomocą „laserów”, dysz wodnych lub technik elektromechanicznych albo elektroiskrowych (ECM/EDM), objętych kontrolą według pozycji 9E003.c (17);

urządzenia do wypłukiwania rdzenia ceramicznego;

urządzenia lub narzędzia do produkcji rdzenia ceramicznego;

urządzenia do przygotowywania woskowych form do wyrobu powłoki ceramicznej;

urządzenia do wypalania powłoki ceramicznej.

X.D.VII.001

„Oprogramowanie”, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821, do „rozwoju” lub „produkcji” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.A.VII.001 lub X.B.VII.001.

X.D.VII.002

„Oprogramowanie” do „rozwoju” lub „produkcji” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.A.VII.002 lub X.B.VII.002.

X.E.VII.001

„Technologie”, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821, do „rozwoju” lub „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.A.VII.001 lub X.B.VII.001.

X.E.VII.002

„Technologie” do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.A.VII.002 lub X.B.VII.002.

X.E.VII.003

Inne „technologie”, nieopisane w pozycji 9E003 (18):

systemy regulacji odległości między wierzchołkiem łopatek wirnikowych a obudową wykorzystujące „technologię” aktywnej obudowy kompensacyjnej, ograniczone do bazy danych dotyczących projektu i rozwoju; lub

łożyska gazowe dla zespołów wirników silników turbinowych.

Kategoria VIII – Pozycje różne

X.A.VIII.001

Następujące urządzenia do produkcji lub poszukiwania ropy naftowej:

zintegrowane urządzenia pomiarowe z głowicą wiertniczą, w tym inercyjne systemy nawigacji do pomiaru podczas wiercenia (MWD);

systemy monitorowania gazu i ich detektory, przeznaczone do ciągłej pracy i wykrywania siarkowodoru;

sprzęt do pomiarów sejsmologicznych, w tym sejsmetyka refleksyjna i wibratory sejsmiczne;

echosondy osadu.

X.A.VIII.002

Sprzęt, „zespoły elektroniczne” i podzespoły specjalnie zaprojektowane do komputerów kwantowych, elektroniki kwantowej, czujników kwantowych, procesorów kwantowych, obwodów kubitowych, urządzeń kubitowych lub systemów radarowych kwantowych, w tym komórek Pockelsa.

Uwaga 1: Komputery kwantowe wykonują obliczenia wykorzystując zbiorowe właściwości stanów kwantowych, takich jak superpozycja, zakłócenia i splątanie kwantowe.

Uwaga 2: Jednostki, obwody i urządzenia obejmują między innymi obwody nadprzewodzące, wyżarzanie kwantowe, pułapkę jonową, interakcję fotoniczną, krzem/spin, zimne atomy.

X.A.VIII.003

Mikroskopy, urządzenia pokrewne i detektory, takie jak:

mikroskopy elektronowe rastrowe (skaningowe);

mikroskopy rastrowe elektronów Augera;

mikroskopy elektronowe transmisyjne;

mikroskopy sił atomowych;

skanningowe mikroskopy sił;

urządzenia i detektory, specjalnie zaprojektowane do zastosowania wraz z mikroskopami wyszczególnionymi w pozycjach od X.A.VIII.003.a do X.A.VIII.0003.e, w których zastosowano dowolne z poniższych technik analizy materiałów:

1. rentgenowska spektroskopia fotoelektronowa (XPS);

2. spektroskopia rentgenowska z dyspersją energii (EDX, EDS); lub

3. spektroskopia fotoelektronów do badań składu chemicznego (ESCA).

X.A.VIII.004

Wyposażenie kolektorów do rud metali w głębokim dnie morskim.

X.A.VIII.005

Sprzęt produkcyjny i obrabiarki, takie jak:

sprzęt do obróbki przyrostowej do „produkcji” części metalowych;

Uwaga:

Pozycja X.A.VIII.005 lit. a ma zastosowanie wyłącznie do następujących systemów:

1. systemy łożyska sproszkowanego wykorzystujące selektywne topienie laserowe (SLM), koszenie laserowe, bezpośrednie spiekanie laserowe (DMLS) lub topienie wiązką elektronów (EBM); lub

2. systemy napełniane proszkiem wykorzystujące okładzinę laserową, bezpośrednie osadzanie energii lub laserowe osadzanie metalowe;

sprzęt do obróbki przyrostowej „materiałów wysokoenergetycznych”, w tym sprzęt wykorzystujący wytłaczanie ultradźwiękowe;

sprzęt do obróbki przyrostowe do fotopolimeryzacji VAT (VVP) z zastosowaniem stereolitografii (SLA) lub cyfrowego przetwarzania światła (DLP).

X.A.VIII.006

Urządzenia do „produkcji” drukowanej elektroniki do organicznych diod elektroluminescencyjnych (OLED), organicznych tranzystorów polowych (OFET) lub organicznych ogniw fotowoltaicznych (OPVC).

X.A.VIII.007

Urządzenia do „produkcji” mikroukładów elektromechanicznych (MEMS) z wykorzystaniem mechanicznych właściwości krzemu, w tym czujniki w formacie chipów, takie jak membrany ciśnieniowe, wiązki zginające lub urządzenia do mikroregulacji.

X.A.VIII.008

Urządzenia specjalnie zaprojektowane do produkcji e-paliw (elektropaliw i paliw syntetycznych) lub ultraefektywnych ogniw słonecznych (efektywność > 30 %).

X.A.VIII.009

Następujące urządzenia do ultrawysokiej próżni (UHV):

pompy UHV (sublimacyjne, turbomolekularne, dyfuzyjne, kriogeniczne, jonowe);

ciśnieniomierze UHV.

Uwaga:

UHV oznacza 100 nanopaskali (NPA) lub mniej.

X.A.VIII.010

Następujące ‘kriogeniczne układy chłodnicze’ zaprojektowane do utrzymywania temperatury poniżej 1,1 K przez co najmniej 48 godzin oraz powiązane z nimi kriogeniczne urządzenia chłodnicze:

rury impulsowe;

kriostaty;

pojemniki Dewara;

system przetwarzania gazu (GHS);

kompresory; lub

jednostki sterujące.

Uwaga:

‘Kriogeniczne systemy chłodnicze’ obejmują m.in. chłodnice rozcieńczające, chłodziarki adiabatyczne i systemy chłodzenia laserowego.

X.A.VIII.011

Urządzenia do ‘dekapsulacji’ urządzeń półprzewodnikowych.

Uwaga:

‘Dekapsulacja’ oznacza usunięcie nakładki, osłony lub materiału osłaniającego z obudowanego układu scalonego za pomocą środków mechanicznych, termicznych lub chemicznych.

X.A.VIII.012

Fotodetektory o wysokiej sprawności kwantowej (QE) o QE powyżej 80 % w zakresie długości fal powyżej 400 nm, ale nieprzekraczającej 1 600 nm.

X.AVIII.013

Sterowane numerycznie obrabiarki posiadające co najmniej jedną oś liniową o długości ruchu większej niż 8 000 mm.

X.A.VIII.014

Systemy armatek wodnych do tłumienia zamieszek lub kontroli tłumu oraz specjalnie do nich zaprojektowane elementy.

Uwaga:

Pozycja X.A.VIII.014 ‘systemy armatek wodnych’ obejmuje na przykład: pojazdy lub stacje stacjonarne wyposażone w zdalnie sterowaną armatkę wodną, które są zaprojektowane do ochrony operatora przed zewnętrznymi zamieszkami, z takimi elementami jak opancerzenie, odporne na stłuczenia szyby, metalowe osłony, orurowanie lub opony typu „run-flat”. Elementy specjalnie zaprojektowane do armatek wodnych mogą obejmować na przykład: dysze wodnych działek pokładowych, pompy, zbiorniki, kamery i światła, które są zabezpieczone lub osłonięte przed pociskami, maszty podnoszące do tych produktów oraz systemy teleoperacyjne do tych produktów.

X.A.VIII.015

Broń obuchowa do ochrony porządku publicznego, w tym pałki policyjne, pałki z rękojeścią boczną, pałki typu „sap”, „tonfa” i „sjambok” oraz bicze.

X.A.VIII.016

Hełmy i tarcze policyjne; oraz specjalnie zaprojektowane części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

X.A.VIII.017

Urządzenia przytrzymujące do ochrony porządku publicznego, w tym kajdany na nogi, kajdany i kajdanki; kaftany bezpieczeństwa; kajdanki obezwładniające; pasy paraliżujące; rękawy paraliżujące; urządzenia przytrzymujące wielopunktowe, takie jak krzesła do krępowania; oraz specjalnie zaprojektowane części składowe i akcesoria, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

Uwaga:

Pozycja X.A.VIII.017 ma zastosowanie do urządzeń przytrzymujących stosowanych w działaniach związanych z ochroną porządku publicznego. Nie ma ona zastosowania do wyrobów medycznych wyposażonych w urządzenia ograniczające ruch pacjentów podczas zabiegów medycznych. Nie ma ona zastosowania do wyrobów, które umożliwiają zamknięcie pacjentów z zaburzeniami pamięci w odpowiednich placówkach medycznych. Nie ma ona zastosowania do wyposażenia bezpieczeństwa, takiego jak pasy bezpieczeństwa lub foteliki samochodowe dla dzieci.

X.A.VIII.018

Sprzęt, „oprogramowanie” i dane do poszukiwania ropy naftowej i gazu (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

nieużywane;

następujące produkty do szczelinowania hydraulicznego:

1. „oprogramowanie” i dane do projektowania i analizy w zakresie szczelinowania hydraulicznego;

2. ‘podsadzka’ i ‘płyn szczelinujący’ do szczelinowania hydraulicznego oraz dodatki chemiczne do nich; lub

3. pompy wysokociśnieniowe.

Uwaga techniczna:

„Podsadzka” jest materiałem stałym, zwykle uzdatnionym piaskiem lub sztucznym materiałem ceramicznym, przeznaczonym do utrzymywania otwartej szczeliny hydraulicznej w trakcie lub po zabiegu szczelinowania. Dodaje się go do „płynu szczelinującego”, który może różnić się składem w zależności od rodzaju zastosowanego szczelinowania i może być na bazie żelu, piany lub płynu typu „slickwater”.

X.A.VIII.019

Następujące specjalistyczne urządzenia do przetwarzania (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

magnesy pierścieniowe;

nieużywane.

X.A.VIII.020

Broń i urządzenia zaprojektowane do celów tłumienia zamieszek lub samoobrony, a mianowicie:

Przenośna broń elektryczna, którą można porazić tylko jedną osobę za pomocą elektrowstrząsu, obejmująca również między innymi pałki elektryczne, tarcze elektryczne, paralizatory lub pistolety paraliżujące;

Zestawy zawierające wszystkie ważne komponenty do montażu przenośnej broni elektrycznej, do której odnosi się pozycja X.A.VIII.020.a; lub

Uwaga:

Za ważne komponenty uznaje się towary takie jak:

1. element generujący elektrowstrząsy,

2. przełącznik, z możliwością zdalnego sterowania lub bez; oraz

3. elektrody lub, w stosownych przypadkach, przewody, za pomocą których można porazić prądem elektrycznym.

broń elektryczna mocowana na stałe lub z możliwością montażu o szerokim zasięgu zdolna porazić prądem elektrycznym wiele osób.

X.A.VIII.021

Broń i sprzęt rozprowadzające obezwładniające lub drażniące substancje chemiczne przeznaczone do tłumienia zamieszek lub samoobrony i określone substancje powiązane, a mianowicie:

Przenośna broń i sprzęt, które w momencie podawania lub rozprowadzania substancji chemicznej bądź podają dawkę obezwładniających lub drażniących substancji chemicznych zdolną porazić jedną osobę, bądź też rozprowadzają dawkę takiej substancji na małym obszarze, na przykład w formie rozpylonej mgły lub chmury;

Uwaga 1: Niniejszy punkt nie dotyczy sprzętu, do którego odnosi się ppkt ML7.e. Wspólnego wykazu uzbrojenia Unii Europejskiej.

Uwaga 2: Niniejszy punkt nie odnosi się do przenośnego sprzętu osobistego, nawet jeśli zawiera on substancję chemiczną, który użytkownik ma przy sobie w celu obrony własnej.

Uwaga 3: Oprócz właściwych substancji chemicznych, takich jak środki rozpraszania tłumu lub PAVA, za obezwładniające lub drażniące substancje chemiczne uznaje się towary, do których odnoszą się pozycje X.A.VIII.021.c i X.A.VIII.021.d.

Wanililoamid kwasu pelargonowego (PAVA) (CAS 2444-46-4);

Oleożywica capsicum (OC) (CAS 8023-77-6);

Mieszaniny zawierające co najmniej 0,3 % PAVA lub OC w masie oraz rozpuszczalnik (na przykład etanol, 1-propanol lub heksan), które mogłyby zostać podane same jako środki obezwładniające lub drażniące, w szczególności w formie aerozolu lub w formie płynnej, lub też które mogłyby zostać wykorzystane do produkcji środków obezwładniających lub drażniących;

Uwaga 1: Niniejszy punkt nie odnosi się do sosów i preparatów do nich, zup i preparatów do nich oraz zmieszanych przypraw lub zmieszanych przypraw korzennych, pod warunkiem że PAVA lub OC nie są ich jedynymi składnikami aromatyzującymi.

Uwaga 2: Niniejszy punkt nie odnosi się do produktów leczniczych, w przypadku których wydano pozwolenie na dopuszczenie do obrotu zgodnie z prawem Unii.

Sprzęt mocowany na stałe do rozprowadzania obezwładniających lub drażniących substancji chemicznych, który może zostać przymocowany do ściany lub sufitu wewnątrz budynku, zawiera zbiornik z drażniącymi lub obezwładniającymi czynnikami chemicznymi i jest uruchamiany za pomocą systemu zdalnego sterowania; lub

Uwaga:

Oprócz właściwych substancji chemicznych, takich jak środki rozpraszania tłumu lub PAVA, za obezwładniające lub drażniące substancje chemiczne uznaje się towary, do których odnoszą się pozycje X.A.VIII.021.c i X.A.VIII.021.d.

stały lub mocowany sprzęt do rozprowadzania obezwładniających lub drażniących czynników chemicznych, o szerokim zasięgu, nieprzeznaczony do mocowania do ściany lub sufitu wewnątrz budynku;

Uwaga 1: Niniejszy punkt nie dotyczy sprzętu, do którego odnosi się ppkt ML7.e. Wspólnego wykazu uzbrojenia Unii Europejskiej.

Uwaga 2: Oprócz właściwych substancji chemicznych, takich jak środki rozpraszania tłumu lub PAVA, za obezwładniające lub drażniące substancje chemiczne uznaje się towary, do których odnoszą się pozycje X.A.VIII.021.c i X.A.VIII.021.d.

inne drażniące substancje chemiczne oraz ich mieszaniny zawierające co najmniej 0,3 % masy substancji czynnej, takie jak:

1. dibenzo[b,f][1,4]oksazepina (CR) (CAS 257-07-8);

2. 8-metylo-N-wanililo-trans-6-nonenamid (kapsaicyna) (CAS 404-86-4);

3. 8-metylo-N-wanililononamid (dihydrokapsaicyna) (CAS 19408-84-5);

4. N-wanililo-9-metylodec-7-(E)-enamid (homoapsaicyna) (CAS 58493-48-4);

5. N-wanililo-9-metylodekanamid (homodihydrokapsaicyna) (CAS 20279-06-5);

6. N-wanililo-7-metylooktanamid (nordihydrokapsaicyna) (CAS 28789-35-7);

7. 4-nonanolilomorfolina (MPA) (CAS 5299-64-9);

8. cis-4-acetyloaminodicykloheksylometan (CAS 37794-87-9);

9. N,N'-bis(izopropylo)etylenodiimina; lub

10. N,N'-bis(tert-butylo)etylenodiimina.

X.A.VIII.022

Produkty, które mogłyby być użyte do przeprowadzania egzekucji ludzi poprzez podanie śmiertelnego zastrzyku, a mianowicie:

Krótko lub średniodługo działające barbituranowe środki znieczulające, między innymi:

1. amobarbital (CAS 57-43-2)

2. sól sodowa amobarbitalu (CAS 64-43-7)

3. pentobarbital (CAS 76-74-4)

4. sól sodowa pentobarbitalu (CAS 57-33-0)

5. sekobarbital (CAS 76-73-3);

6. sól sodowa sekobarbitalu (CAS 309-43-3)

7. tiopental (CAS 76-75-5) lub

8. sól sodowa tiopentalu (CAS 71-73-8), znana również jako tiopenton sodu

produkty zawierające jeden ze środków znieczulających wymienionych w pozycji X.A.VIII.022.a.

X.A.VIII.023

Siatki, osłony, namioty, koce i odzież specjalnie zaprojektowane do kamuflażu.

X.B.VIII.001

Następujące specjalistyczne urządzenia do przetwarzania (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

komory gorące; lub

komory rękawicowe nadające się do stosowania z materiałami radioaktywnymi.

X.C.VIII.001

Proszki metali i proszki stopów metali nadające się do wykorzystania w którymkolwiek z systemów wymienionych w pozycji X.A.VIII.005.a.

X.C.VIII.002

Następujące materiały zaawansowane:

materiały do maskowania lub kamuflażu adaptacyjnego;

metamateriały, np. o ujemnym współczynniku załamania światła;

nieużywane.

stopy o wysokiej entropii (HEA);

związki Heuslera; lub

materiały Kitajewa, w tym ciecze spinowe Kitajewa.

X.C.VIII.003

Polimery sprzężone (przewodzące, półprzewodzące, elektroluminescencyjne) do elektroniki drukowanej lub organicznej.

X.C.VIII.004

Następujące materiały wysokoenergetyczne i ich mieszaniny:

pikrynian amonu (CAS 131-74-8);

czarny proch;

heksanitrodifenyloamina (CAS 131-73-7);

difluoroamina (CAS 10405-27-3);

nitroskrobia (CAS 9056-38-6);

nieużywane;

tetranitronaftalen;

trinitroanizol;

trinitronaftalen;

trinitroksylen;

N-pyrrolidynon; 1-metylo-2-pyrrolidynon (CAS 872-50-4);

maleinian dioktylu (CAS 142-16-5);

akrylan etyloheksylu (CAS 103-11-7);

trietyloglin (TEA) (CAS 97-93-8), trimetyloglin (TMA)(CAS 75-24-1) i inne, piroforyczne alkile metali oraz aryle litu, sodu, magnezu, cynku lub boru;

nitroceluloza (CAS 9004-70-0);

nitrogliceryna (lub triazotan glicerolu, trinitrogliceryna) (NG) (CAS 55-63-0);

2,4,6-trinitrotoluen (TNT) (CAS 118-96-7);

diazotan etylenodiaminy (EDDN) (CAS 20829-66-7);

tetraazotan pentaerytrolu (PETN) (CAS 78-11-5);

azydek ołowiu (CAS 13424-46-9), normalny styfninian ołowiu (CAS 15245-44-0) i zasadowy styfninian ołowiu (CAS 12403-82-6) oraz pierwotne materiały wybuchowe lub masy zapłonowe zawierające azydki lub kompleksy azydkowe;

nieużywane;

mocznik dietylodifenylu (CAS 85-98-3); mocznik dimetylodifenylu (CAS 611-92-7); mocznik metyloetylodifenylu;

mocznik N,N-difenylu (niesymetryczny mocznik difenylowy) (CAS 603-54-3);

mocznik metylo-N,N-difenylu (niesymetryczny difenylomocznik metylu) (CAS 13114-72-2);

mocznik etylo-N,N-difenylu (niesymetryczny difenylomocznik etylu) (CAS 64544-71-4);

aa.

nieużywane;

bb.

4-nitrodifenyloamina (4-NDPA)(CAS 836-30-6);

cc.

2,2-dinitropropanol (CAS 918-52-5); lub

dd.

nieużywane.

X.D.VIII.001

„Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” sprzętu określonego w pozycjach od X.A.VIII.005 do X.A.VIII.0013.

X.D.VIII.002

„Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” sprzętu, „zespołów elektronicznych” lub komponentów określonych w pozycji X.A.VIII.002.

X.D.VIII.003

„Oprogramowanie” do cyfrowych bliźniaków produktów obróbki przyrostowej lub do określania niezawodności produktów obróbki przyrostowej.

X.D.VIII.004

„Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” towarów objętych kontrolą według pozycji X.A.VIII.014.

X.D.VIII.005

Następujące „oprogramowanie” specjalistyczne (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

„oprogramowanie” do obliczeń/modeli neutronowych;

„oprogramowanie” do obliczeń/modeli transportu materiałów promieniotwórczych; lub

„oprogramowanie” do obliczeń/modeli hydrodynamicznych.

X.E.VIII.001

„Technologia” do „rozwoju”,„produkcji” lub „użytkowania” urządzeń wymienionych w pozycjach od X.A.VIII.001 do X.A.VIII.0013.

X.E.VIII.002

„Technologia” do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” z materiałów wymienionych w pozycjach X.C.VIII.002 lub X.C.VIII.003

X.E.VIII.003

„Technologia” do cyfrowych bliźniaków produktów obróbki przyrostowej, do określania niezawodności produktów obróbki przyrostowej lub „oprogramowania” określonego w X.D.VIII.003.

X.E.VIII.004

Technologia do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania”„oprogramowania” określonego w pozycjach od X.D.VIII.001 do X.D.VIII.002.

X.E.VIII.005

„Technologie”„niezbędne” do „rozwoju” lub „produkcji” towarów objętych kontrolą według pozycji X.A.VIII.014.

X.E.VIII.006

„Technologie” wyłącznie do „rozwoju” lub „produkcji” towarów objętych kontrolą według pozycji X.A.VIII.017.

Kategoria IX – materiały specjalne i związane z nimi urządzenia

X.A.IX.001

Środki chemiczne, w tym preparat gazu łzawiącego zawierający 1 % lub mniej ortochlorobenzalononitrylu (CS) lub 1 % lub mniej chloroacetofenonu (CN), z wyjątkiem pojedynczych pojemników o masie netto 20 g lub mniejszej; pieprz płynny, z wyjątkiem pakowanego w pojedyncze pojemniki o masie netto 85,05 g lub mniejszej; bomby dymne; niedrażniące świece, kanistry, granaty i ładunki dymne; oraz inne wyroby pirotechniczne o podwójnym zastosowaniu wojskowym i handlowym oraz specjalnie zaprojektowane do nich komponenty, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

X.A.IX.002

Proszki, barwniki i atramenty do pobierania odcisków palców.

X.A.IX.003

Następujące urządzenia ochronne i wykrywające, które nie zostały specjalnie zaprojektowane do celów wojskowych i nie są objęte kontrolą według pozycji 1A004 lub 2B351 (19) (zob. wykaz produktów objętych kontrolą), oraz elementy składowe, które nie zostały specjalnie zaprojektowane do celów wojskowych i nie są objęte kontrolą według pozycji 1A004 ani 2B351:

osobiste monitorujące dozymetry promieniowania jądrowego; lub

urządzenia i wyposażenie, ograniczone projektowo lub funkcjonalnie do zapewniania ochrony przed typowymi cywilnymi zagrożeniami przemysłowymi, np. w górnictwie, przemyśle wydobywczym, rolnictwie, przemyśle farmaceutycznym, medycynie, weterynarii, ochronie środowiska, zagospodarowaniu odpadów lub w przemyśle spożywczym.

Uwaga:

Pozycja X.A.IX.003 nie obejmuje kontrolą produktów do ochrony przed czynnikami chemicznymi lub biologicznymi, które są towarami konsumpcyjnymi, pakowanymi do sprzedaży detalicznej lub do użytku osobistego, ani produktów medycznych, takich jak lateksowe rękawiczki do badań, lateksowe rękawiczki chirurgiczne, mydło w płynie do dezynfekcji, jednorazowe obłożenia chirurgiczne, fartuchy chirurgiczne, chirurgiczne ochraniacze na obuwie oraz maski chirurgiczne.

X.A.IX.004

Następujące specjalistyczne urządzenia do przetwarzania, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821 (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

sprzęt do wykrywania, kontroli i pomiaru promieniowania, inny niż określony we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821; lub

sprzęt do wykrywania radiologicznego, np. przetworniki do urządzeń rentgenowskich i fosforowe płytki obrazowe.

X.B.IX.001

Następujące specjalistyczne urządzenia do przetwarzania, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821 (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

ogniwa elektrolityczne do produkcji fluoru, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

akceleratory cząstek;

sprzęt/systemy do sterowania procesami przemysłowymi przeznaczone dla energetyki, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

systemy chłodzenia oparte na freonie i wodzie lodowej, o ciągłej wydajności chłodniczej 29,3 kW/h lub większej; lub

urządzenia do produkcji kompozytów konstrukcyjnych, włókien, prepregów i preform.

X.C.IX.001

Odrębne związki chemiczne, zdefiniowane zgodnie z pkt 1 uwag do działów 28 i 29 nomenklatury scalonej:

o stężeniu 95 % wagowo lub większym:

1. chlorek etylenu (CAS 107-06-2);

2. nitrometan (CAS 75-52-5);

3. kwas pikrynowy (CAS 88-89-1);

4. chlorek glinu (CAS 7446-70-0);

5. arsen (CAS 7440-38-2);

6. tritlenek diarsenu (CAS 1327-53-3);

7. chlorowodorek bis(2-chloroetyly)etyloaminy (CAS 3590-07-6);

8. chlorowodorek bis(2-chloroetylo)metyloaminy (CAS 55-86-7);

9. chlorowodorek tris(2-chloroetylo)aminy (CAS 817-09-4);

10. tributfosforyn tributylu (CAS 102-85-2);

11. izocyjanian metylu (CAS 624-83-9);

12. chinaldyna (CAS 91-63-4);

13. 2-bromochloroetan (CAS 107-04-0);

14. bendibenzoil (CAS 134-81-6);

15. eter dietylowy (CAS 60-29-7);

16. eter dimetylowy (CAS 115-10-6);

17. dimetyloaminoetanol (CAS 108-01-0);

18. 2-metoksyetanol (CAS 109-86-4);

19. cholinoesteraza butyrylowa (BCHE);

20. dietylenotriamina (CAS 111-40-0);

21. dichlorometan (CAS 75-09-2);

22. dimetyloanilina (CAS 121-69-7);

23. bromek etylu (CAS 74-96-4);

24. chlorek etylu (CAS 75-00-3);

25. etyloamina (CAS 75-04-7);

26. heksamina (CAS 100-97-0);

27. izopropanol (CAS 67- 63-0);

28. bromek izopropylu (CAS 75-26-3);

29. eter izopropylowy (CAS 108-20-3);

30. metyloamina (CAS 74-89-5);

31. bromek metylu (CAS 74-83-9);

32. monoizopropyloamina (CAS 75-31-0);

33. chlorek obidoksymu (CAS 114-90-9);

34. bromek potasu (CAS 7758-02-3);

35. pirydyna (CAS 110-86-1);

36. bromek pirydostygminy (CAS 101-26-8);

37. bromek sodu (CAS 7647-15-6);

38. sód metaliczny (CAS 7440-23-5);

39. tributyloamina (CAS 102-82-9);

40. trietyloamina (CAS 121-44-8); lub

41. trimetyloamina (CAS 75-50-3);

o stężeniu 90 % wagowo lub większym:

1. aceton (CAS 67-64-1);

2. acetylen (CAS 74-86-2);

3. amoniak (CAS 7664-41-7);

4. antymon (CAS 7440-36-0);

5. benzaldehyd (CAS 100-52-7);

6. benzoina (CAS 119-53-9);

7. 1-butanol (CAS 71-36-3);

8. 2-butanol (CAS 78-92-2);

9. izobutanol (CAS 78-83-1);

10. trzeciorzędowy butanol (CAS 75-65-0);

11. acetylek wapnia (CAS 75-20-7);

12. tlenek węgla (CAS 630-08-0);

13. chlor (CAS 7782-50-5);

14. cykloheksanol (CAS 108-93-0);

15. dicykloheksyloamina (CAS 101-83-7);

16. etanol (CAS 64-17-5);

17. etylen (CAS 74-85-1);

18. tlenek etylenu (CAS 75-21-8);

19. fluoroapatyt (CAS 1306-05-4);

20. chlorowodór (CAS 7647-01-0);

21. siarkowodór (CAS 7783-06-4);

22. kwas migdałowy (CAS 90-64-2);

23. metanol (CAS 67-56-1);

24. chlorek metylu (CAS 74-87-3);

25. jodek metylu (CAS 74-88-4);

26. merkaptan metylu (CAS 74-93-1);

27. glikol etylenowy (CAS 107-21-1);

28. chlorek oksalilu (CAS 79-37-8);

29. siarczek potasu (CAS 1312-73-8);

30. tiocyjanian potasu (CAS 333-20-0);

31. podchloryn sodu (CAS 7681-52-9);

32. siarka (CAS 7704-34-9);

33. dwutlenek siarki (CAS 7446-09-5);

34. tritlenek siarki (CAS 7446-11-9);

35. chlorek tiofosforylu (CAS 3982-91-0);

36. fosforyn triizobutylu (CAS 1606-96-8);

37. biały fosfor (CAS 12185-10-3);

38. żółty fosfor (CAS 7723-14-0);

39. rtęć (CAS 7439-97-6);

40. chlorek baru (CAS 10361-37-2);

41. kwas siarkowy (CAS 7664-93-9);

42. 3,3-dimetylo-1-buten (CAS 558-37-2);

43. 2,2-dimetylopropanal (CAS 630-19-3);

44. chlorek 2,2-dimetylopropylu (CAS 753-89-9);

45. 2-metylobuten (CAS 26760-64-5);

46. 2-chloro-3-metylobutan (CAS 631-65-2);

47. 2,3-dimetylo-2,3-butanodiol (CAS 76-09-5);

48. 2-metylo-2-buten (CAS 513-35-9);

49. butylolit (CAS 109-72-8);

50. bromo(metylo)magnez (CAS 75-16-1);

51. formaldehyd (CAS 50-00-0);

52. dietanoloamina (CAS 111-42-2);

53. węglan dimetylu (CAS 616-38-6);

54. chlorowodorek metylodietanoloaminy (CAS 54060-15-0);

55. chlorowodorek dietyloaminy (CAS 660-68-4);

56. chlorowodorek diizopropyloaminy (CAS 819-79-4);

57. chlorowodorek 3-chinuklidynonu (CAS 1193-65-3);

58. chlorowodorek 3-chinuklidynolu (CAS 6238-13-7);

59. (R)-3-chlorowodorek chinuklidynolu (CAS 42437-96-7); lub

60. chlorowodorek N,N-dietyloaminoetanolu (CAS 14426-20-1).

X.C.IX.002

Fentanyl i jego pochodne: alfentanyl, sufentanyl, remifenantyl, karfentanyl i ich sole.

Uwaga:

Pozycja X.C.IX.002 nie obejmuje kontrolą produktów określanych jako artykuły konsumpcyjne pakowane do sprzedaży detalicznej do osobistego użytku lub pakowane do indywidualnego użytku.

X.C.IX.003

Prekursory chemiczne substancji działających na ośrodkowy układ nerwowy, takie jak:

4-Anilino-N-fenetylopiperydyna (CAS 21409-26-7); lub

N-fenetylo-4-piperydon (CAS 39742-60-4).

Uwagi:

1. Pozycja X.C.IX.003 nie obejmuje kontrolą „mieszanin chemicznych” zawierających jedną lub więcej substancji chemicznych wyszczególnionych w pozycji X.C.IX.003, w którym żadna z indywidualnie wyszczególnionych substancji chemicznych nie stanowi wagowo więcej niż 1 % mieszaniny.

2. Pozycja X.C.IX.003 nie obejmuje kontrolą wyrobów określanych jako towary konsumpcyjne pakowane do sprzedaży detalicznej do osobistego użytku lub pakowane do indywidualnego użytku.

X.C.IX.004

Materiały włókniste i włókienkowe, nieobjęte kontrolą według pozycji 1C010 ani 1C210 (20), do stosowania w strukturach „kompozytowych” oraz o module właściwym 3,18 x 106 m lub większym oraz wytrzymałości właściwej na rozciąganie 7,62 x 104 m lub większej.

X.C.IX.005

Następujące „szczepionki”, „immunotoksyny”, „produkty medyczne”, „zestawy diagnostyczne i do badań żywności” (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

„szczepionki” zawierające produkty objęte kontrolą według pozycji 1C351, 1C353 lub 1C354 lub zaprojektowane do stosowania przeciwko takim produktom;

„immunotoksyny” zawierające produkty objęte kontrolą według pozycji 1C351.d; lub

„produkty medyczne”, które zawierają którekolwiek z poniższych składników:

1. „toksyny” objęte kontrolą według pozycji 1C351.d (z wyjątkiem toksyn botulinowych objętych kontrolą według pozycji 1C351.d.1, konotoksyn objętych kontrolą według pozycji 1C351.d.3 lub produktów objętych kontrolą z powodów związanych z bronią chemiczną w ramach pozycji 1C351.d.4 lub.d.5); lub

2. organizmy modyfikowane genetycznie lub elementy genetyczne objęte kontrolą według pozycji 1C353.a.3 (z wyjątkiem tych, które zawierają lub kodują toksyny botulinowe objęte kontrolą według pozycji 1C351.d.1 lub konotoksyny objęte kontrolą według pozycji 1C351.d.3);

‘produkty medyczne’ nieobjęte kontrolą według pozycji X.C.IX.005.c, które zawierają którekolwiek z poniższych składników:

1. toksyny botulinowe objęte kontrolą według pozycji 1C351.d.1;

2. konotoksyny objęte kontrolą według pozycji 1C351.d.3; lub

3. organizmy modyfikowane genetycznie lub elementy genetyczne objęte kontrolą według pozycji 1C353.a.3, które zawierają lub kodują toksyny botulinowe objęte kontrolą według pozycji 1C351.d.1 lub konotoksyny objęte kontrolą według pozycji 1C351.d.3; lub

‘zestawy diagnostyczne i do badań żywności’ zawierające produkty objęte kontrolą według pozycji 1C351.d (z wyjątkiem produktów objętych kontrolą z powodów związanych z bronią chemiczną w ramach pozycji 1C351.d.4 lub d.5).

Uwagi techniczne:

1. „Produkty medyczne” oznaczają: 1) wyroby farmaceutyczne przeznaczone do badań i podawania ludziom (lub zwierzętom) w leczeniu schorzeń, 2) pakowane do dystrybucji jako produkty kliniczne lub medyczne oraz 3) zatwierdzone przez Europejską Agencję Leków (EMA) do wprowadzenia do obrotu jako produkty kliniczne lub medyczne albo do stosowania jako nowy lek do badań.

2. „Zestawy diagnostyczne i do badań żywności” są specjalnie opracowywane, pakowane i wprowadzane do obrotu w celach diagnostycznych lub w celach związanych ze zdrowiem publicznym. Toksyny biologiczne w dowolnej innej konfiguracji, łącznie z przesyłkami masowymi, lub do innych zastosowań końcowych są objęte kontrolą według pozycji 1C351.

X.C.IX.006

Ładunki handlowe i urządzenia zawierające materiały wysokoenergetyczne, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821, oraz trifluorek azotu w stanie gazowym (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

ładunki kumulacyjne specjalnie zaprojektowane do eksploatacji odwiertu naftowego, wykorzystujące jeden ładunek działający wzdłuż jednej osi, które po detonacji powodują powstanie otworu, oraz

1. mają dowolną zawartość „materiałów objętych kontrolą”;

2. posiadają tylko jednorodną warstwę stożkową o zintegrowanym kącie 90° lub mniejszym;

3. zawierają więcej niż 0,010 kg, ale nie więcej niż 0,090 kg „materiałów objętych kontrolą”; oraz

4. mają średnicę nieprzekraczającą 114,3 cm;

ładunki kumulacyjne specjalnie zaprojektowane do eksploatacji odwiertu naftowego zawierające nie więcej niż 0,010 kg „materiałów objętych kontrolą”;

lont detonujący lub rury uderzeniowe zawierające nie więcej niż 0,064 kg/m „materiałów objętych kontrolą”;

naboje do celów technicznych, które zawierają nie więcej niż 0,70 kg „materiałów objętych kontrolą” w materiale deflagracyjnym;

detonatory (elektryczne lub nieelektryczne) i ich zespoły, które zawierają nie więcej niż 0,01 kg „materiałów objętych kontrolą”;

zapalniki zawierające nie więcej niż 0,01 kg „materiałów objętych kontrolą”;

naboje do szybów naftowych zawierające nie więcej niż 0,015 kg „materiałów wysokoenergetycznych” objętych kontrolą;

komercyjne detonatory pośrednie (cast/pressed boosters) zawierające nie więcej niż 1,0 kg/m „materiałów objętych kontrolą”;

komercyjne prefabrykowane zawiesiny i emulsje zawierające nie więcej niż 10,0 kg i nie więcej niż 35 % masy „materiałów objętych kontrolą” z wykazu ML8;

narzędzia tnące i odcinające (cutters/severing tools) zawierające nie więcej niż 3,5 kg „materiałów objętych kontrolą”;

urządzenia pirotechniczne przeznaczone wyłącznie do celów handlowych (np. do specjalnych efektów teatralnych i filmowych oraz pokazów sztucznych ogni) i zawierające nie więcej niż 3,0 kg „materiałów objętych kontrolą”;

inne komercyjne urządzenia i ładunki wybuchowe nieobjęte kontrolą według pozycji X.C.IX.006.a do k zawierające nie więcej niż 1,0 kg „materiałów objętych kontrolą”; lub

Uwaga:

Pozycja X.C.IX.006.l obejmuje samochodowe urządzenia zabezpieczające; systemy gaśnicze; naboje do nitownic; ładunki wybuchowe do celów związanych z rolnictwem, ropą naftową i gazem, artykułami sportowymi, komercyjnym górnictwem lub robotami publicznymi; oraz rury opóźniające stosowane w montażu komercyjnych urządzeń wybuchowych.

trifluorek azotu (NF3) w stanie gazowym.

Uwagi:

1. „Materiały objęte kontrolą” oznaczają objęte kontrolą materiały wysokoenergetyczne (zob. pkt 1C011, 1C111, 1C239 lub ML8).

2. Trifluorek azotu, jeżeli nie znajduje się w stanie gazowym, jest objęty kontrolą zgodnie z pkt ML8.d według wspólnego wykazu uzbrojenia.

X.C.IX.007

Następujące mieszaniny nieobjęte kontrolą według pozycji 1C350 lub 1C450 (21) zawierające substancje chemiczne objęte kontrolą według pozycji 1C350 lub 1C450 oraz zestawy do badań medycznych, analitycznych, diagnostycznych i do badań żywności nieobjęte kontrolą według pozycji 1C350 lub 1C450, zawierające chemikalia objęte kontrolą według pozycji 1C350 (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

mieszaniny zawierające następujące stężenia prekursorów chemicznych objętych kontrolą według pozycji 1C350:

1. mieszaniny zawierające 10 % masy lub mniej dowolnej pojedynczej substancji chemicznej z Wykazu 2 CWC objętej kontrolą według pozycji 1C350;

2. mieszaniny zawierające mniej niż 30 % masy:

dowolnej pojedynczej substancji chemicznej określonej w wykazie 3 CWC objętej kontrolą według pozycji 1C350; lub

dowolnej pojedynczej substancji chemicznej niebędącej prekursorem CWC objętej kontrolą według pozycji 1C350;

mieszaniny zawierające następujące stężenia substancji chemicznych toksycznych lub będących prekursorami objętych kontrolą według pozycji 1C450:

1. mieszaniny zawierające następujące stężenia substancji chemicznych z Wykazu 2 CWC objętych kontrolą według pozycji 1C450:

mieszaniny zawierające 1 % masy lub mniej dowolnej pojedynczej substancji chemicznej z Wykazu 2 CWC objętej kontrolą według pozycji 1C450.a.1 i a.2 (tj. mieszaniny zawierające amiton lub PFIB); lub

mieszaniny zawierające 10 % masy lub mniej dowolnej pojedynczej substancji chemicznej z Wykazu 2 CWC objętej kontrolą według pozycji 1C450.b.1, b.2, b.3, b.4, b.5, lub b.6;

2. mieszaniny zawierające mniej niż 30 % masy dowolnej pojedynczej substancji chemicznej z Wykazu 3 CWC objętej kontrolą według pozycji 1C450.a.4, a.5, a.6, a.7 lub 1C450.b.8;

„zestawy do badań medycznych, analitycznych, diagnostycznych i do badań żywności”, zawierające prekursory chemiczne objęte kontrolą według pozycji 1C350 w ilości nieprzekraczającej 300 gramów na substancję chemiczną.

Uwaga techniczna:

Do celów niniejszej pozycji „zestawy do badań medycznych, analitycznych, diagnostycznych i do badań żywności” są paczkowanymi materiałami o określonym składzie, które są specjalnie opracowane, pakowane i wprowadzane do obrotu do celów medycznych, analitycznych, diagnostycznych lub związanych ze zdrowiem publicznym. Odczynniki zamienne do zestawów do badań medycznych, analitycznych, diagnostycznych i do badań żywności opisanych w pozycji X.C.IX.007.c są objęte kontrolą według pozycji 1C350, jeżeli odczynniki zawierają co najmniej jeden z prekursorów chemicznych określonych w tej pozycji w stężeniach równych co najmniej poziomom kontrolnym dla mieszanin wskazanym w pozycji 1C350.

X.C.IX.008

Następujące niefluorowane substancje polimerowe, nieobjęte kontrolą według pozycji 1C008 (22) (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

następujące poliketony arylenoeterowe:

1. poliketon eterowo-eterowy (PEEK);

2. poliketon eterowo-ketonowy (PEKK);

3. poliketon eterowy (PEK); lub

4. poliketon eterowo-ketonowo-eterowo-ketonowy (PEKEKK);

nieużywane.

X.C.IX.009

Określone materiały, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821 (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

precyzyjne łożyska kulkowe z hartowanej stali i węglika wolframu (o średnicy 3 mm lub większej);

płyta ze stali nierdzewnej 304 i 316, inna niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

płyta monelowa;

fosforan tributylu (CAS 126-73-8);

kwas azotowy (CAS 7697-37-2) w stężeniu masowym co najmniej 20 %;

fluor (CAS 7782-41-4); lub

nuklidy alfa-promieniotwórcze, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

X.C.IX.010

Poliamidy aromatyczne (aramidy) nieobjęte kontrolą według pozycji 1C010, 1C210 lub X.C.IX.004, w którejkolwiek z poniższych postaci (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

formy podstawowe;

przędza z włókna ciągłego lub przędza jednowłóknowa;

kable z włókna ciągłego;

niedoprzędy;

włókna odcinkowe lub cięte;

tkaniny;

masa włóknista lub wypełnienie.

X.C.IX.011

Następujące nanomateriały (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

nanomateriały półprzewodnikowe;

nanomateriały kompozytowe; lub

dowolny z następujących nanomateriałów węglowych:

1. nanorurki węglowe;

2. nanowłókna węglowe;

3. fulereny;

4. grafeny; lub

5. nanocebulki węglowe.

Uwagi:

Do celów pozycji X.C.IX.011 nanomateriał oznacza materiał spełniający co najmniej jedno z następujących kryteriów:

1. składa się z cząstek o co najmniej jednym wymiarze zewnętrznym w zakresie wielkości 1–100 nm dla ponad 1 % ich liczbowego rozkładu wielkości;

2. posiada struktury wewnętrzne lub powierzchniowe w co najmniej jednym wymiarze w zakresie wielkości 1–100 nm; lub

3. ma powierzchnię właściwą na jednostkę objętości większą niż 60 m2/cm3, z wyłączeniem materiałów składających się z cząstek o wielkości mniejszej niż 1 nm.

X.C.IX.012

Metale ziem rzadkich i ich związki, zarówno w postaci organicznej, jak i nieorganicznej, włączając mieszanki, nawet ich mieszaniny lub stopy

Uwaga 1: Metale ziem rzadkich i ich związki włączając skand, itr, lantan, cer, prazeodym, neodym, promet, samar, europ, gadolin, terb, dysproz, holm, erb, tul, iterb i lutet;

Uwaga 2: Do celów kontroli pozycji X.C.IX.012 wyłączone są minerały zawierające metale ziem rzadkich;

Uwaga 3: Pozycja X.C.IX.012 nie obejmuje kontrolą mieszanin, w których w którym żaden z indywidualnie wyszczególnionych w tej pozycji metali lub związków nie stanowi wagowo więcej niż 5 % masy mieszaniny.

X.D.IX.001

Określone „oprogramowanie” inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821 (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

„oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane do sprzętu/systemów do sterowania procesami przemysłowymi objętych kontrolą według pozycji X.B.IX.001, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821; lub

„oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane do urządzeń do produkcji kompozytów konstrukcyjnych, włókien, prepregów i preform objętych kontrolą według pozycji X.B.IX.001, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

X.E.IX.001

„Technologie” do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” materiałów włóknistych lub włókienkowych objętych kontrolą według pozycji X.C.IX.004 i X.C.IX.010.

X.E.IX.002

„Technologie” do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” nanomateriałów objętych kontrolą według pozycji X.C.IX.011.

Kategoria X – Przetwarzanie materiałów

X.A.X.001

Urządzenia do wykrywania materiałów wybuchowych lub detonatorów, zarówno masowe, jak i śladowe, składające się z urządzenia zautomatyzowanego lub zespołu urządzeń do zautomatyzowanego podejmowania decyzji w celu wykrywania obecności różnych rodzajów materiałów wybuchowych, pozostałości materiałów wybuchowych lub detonatorów; oraz części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821:

urządzenia do wykrywania materiałów wybuchowych do „zautomatyzowanego podejmowania decyzji” w celu wykrywania i identyfikacji materiałów wybuchowych luzem z wykorzystaniem m.in. promieniowania rentgenowskiego (np. tomografia komputerowa, tomografia dwuenergetyczna lub spójne rozpraszanie), techniki jądrowej (np. analiza neutronów termicznych, analiza impulsowa z użyciem neutronów prędkich, spektroskopia impulsowa transmisji neutronów prędkich i absorpcja rezonansowej emisji promieniowania gamma) lub techniki elektromagnetyczne (np. rezonans kwadrupolowy i dielektrometria);

nieużywane;

urządzenia do wykrywania detonatorów do zautomatyzowanego podejmowania decyzji w celu wykrywania i identyfikacji urządzeń inicjujących (np. detonatorów, spłonek), wykorzystujące m.in. techniki rentgenowskie (np. tomografia dwuenergetyczna lub tomografia komputerowa) lub techniki elektromagnetyczne.

Uwaga:

Urządzenia do wykrywania materiałów wybuchowych lub detonacji w pozycji X.A.X.001 obejmuje urządzenia do monitorowania osób, dokumentów, bagażu, innych rzeczy osobistych, ładunku lub poczty.

Uwagi techniczne:

1. „Zautomatyzowane podejmowanie decyzji” to zdolność urządzeń do wykrywania materiałów wybuchowych lub detonatorów na konstrukcyjnym poziomie czułości lub na poziomie czułości wybranym przez operatora oraz do zapewnienia automatycznego alarmu w przypadku wykrycia materiałów wybuchowych lub detonatorów na poziomie czułości lub powyżej tego poziomu.

2. Pozycja ta nie obejmuje kontrolą sprzętu, który zależy od interpretacji przez operatora wskaźników, takich jak nieorganiczne/organiczne mapowanie kolorów produktów poddanych skanowaniu.

3. Materiały wybuchowe i detonatory obejmują ładunki i urządzenia komercyjne objęte kontrolą według pozycji X.C.VIII.004 i X.C.IX.006 oraz materiały energetyczne objęte kontrolą według pozycji 1C011, 1C111 i 1C239 (23)

X.A.X.002

Urządzenia do wykrywania ukrytych obiektów pracujące w zakresie częstotliwości od 30 GHz do 3 000 GHz i posiadające rozdzielczość przestrzenną od 0,1 mrad do 1 mrad włącznie w odległości wyłączenia 100 m; oraz części składowe, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821.

Uwaga:

Urządzenia do wykrywania ukrytych obiektów obejmują m.in. urządzenia do monitorowania osób, dokumentów, bagażu, innych rzeczy osobistych, ładunku lub poczty.

Uwaga techniczna:

Zakres częstotliwości obejmuje wielkości ogólnie uważane za obszary częstotliwości fal milimetrowych, submilimetrowych i terahercowych.

X.A.X.003

Łożyska i układy łożyskowe nieobjęte kontrolą według pozycji 2A001 (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

łożyska kulkowe lub łożyska pełne, o tolerancjach określonych przez producenta według norm ABEC 7, ABEC 7P lub ABEC 7T lub normą ISO jako łożyska klasy 4 lub wyższej (lub równoważnej) posiadające którąkolwiek z poniższych cech:

1. wytwarzane z przeznaczeniem do stosowania w temperaturach roboczych powyżej 573 K (300 °C) przy użyciu specjalnych materiałów lub specjalnej obróbki cieplnej; lub

2. z elementami smarnymi lub modyfikacjami składników, które, zgodnie ze specyfikacjami producenta, są specjalnie zaprojektowane w celu umożliwienia działania łożysk przy prędkościach przekraczających 2,3 mln „DN”;

pełne stożkowe łożyska wałeczkowe, o tolerancjach określonych przez producenta według norm ANSI/AFBMA jako łożyska klasy 00 (calowe) lub klasy A (metryczne) lub wyższej (lub równoważne), i posiadające którąkolwiek z poniższych cech:

1. z elementami smarnymi lub modyfikacjami składników, które, zgodnie ze specyfikacjami producenta, są specjalnie zaprojektowane w celu umożliwienia działania łożysk przy prędkościach przekraczających 2,3 mln „DN”; lub

2. wytwarzane z przeznaczeniem do stosowania w temperaturach roboczych poniżej 219 K (-54 °C) lub powyżej 423 K (150 °C);

łożyska na poduszce gazowej wyprodukowane z przeznaczeniem do pracy w temperaturach 561 K (288 °C) lub wyższych oraz o nośności jednostkowej przekraczającej 1 MPa;

aktywne zespoły łożysk magnetycznych;

łożyska tekstolitowe wahliwe albo poprzeczne przesuwne wyprodukowane z przeznaczeniem do pracy w temperaturach poniżej 219 K (-54 °C) lub powyżej 423 K (150 °C).

Uwagi techniczne:

1. „DN” jest iloczynem średnicy wewnętrznej łożyska w mm i prędkości obrotowej łożyska w obr./min.

2. Temperatury robocze obejmują temperatury występujące po zatrzymaniu silnika turbiny gazowej po zakończeniu jego pracy.

X.A.X.004

Przewody rurowe, łączniki i zawory wykonane ze stali nierdzewnej, stopu miedzi z niklem lub pozostałej stali stopowej zawierającej 10 % lub więcej niklu lub chromu lub pokryte nimi:

rury, przewody i złączki ciśnieniowe o średnicy wewnętrznej 200 mm lub większej i odpowiednie do pracy przy ciśnieniu 3,4 MPa lub większym;

zawory rurowe posiadające wszystkie niżej wymienione właściwości, które nie są objęte kontrolą według pozycji 2B350.g (24):

1. złącze rurowe o średnicy wewnętrznej 200 mm lub większej; oraz

2. o wytrzymałości znamionowej 10,3 MPa lub większej.

Uwagi:

1. W odniesieniu do „oprogramowania” dla produktów objętych kontrolą w ramach niniejszej pozycji zob. X.D.X.005.

2. Zob. 2E001 („rozwój”), 2E002 („produkcja”) i X.E.X.003 („użytkowanie”) dotyczące technologii dla produktów objętych kontrolą w ramach niniejszej pozycji.

3. Zob. powiązane kontrole 2A226, 2B350 i X.B.X.010.

X.A.X.005

Pompy przeznaczone do przemieszczania stopionych metali za pomocą sił elektromagnetycznych.

Uwagi:

1. W odniesieniu do „oprogramowania” dla produktów objętych kontrolą w ramach niniejszej pozycji zob. X.D.X.005.

2. Zob. 2E001 („rozwój”), 2E002 („produkcja”) i X.E.X.003 („użytkowanie”) dotyczące „technologii” dla produktów objętych kontrolą w ramach niniejszej pozycji.

3. Pompy do reaktorów chłodzonych ciekłymi metalami są objęte kontrolą według pozycji 0A001.

X.A.X.006

„Przenośne prądnice elektryczne” i specjalnie zaprojektowane podzespoły.

Uwaga techniczna:

„Przenośne prądnice elektryczne” – prądnice wymienione w pozycji X.A.X.006 są przenośne – 2 268 kg lub mniej na kołach lub mogą być przewożone w samochodzie ciężarowym o ładowności 2,5 t bez wymogu specjalnej konfiguracji.

X.A.X.007

Następujące specjalistyczne urządzenia do przetwarzania, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821 (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

zawory wyposażone w uszczelnienia mieszkowe;

nieużywane.

X.B.X.001

‘Reaktory o przepływie ciągłym’ i ich ‘elementy modułowe’.

Uwagi techniczne:

1. Do celów X.B.X.001 ‘reaktory o przepływie ciągłym’ składają się z systemów typu „plug and play”, w których reagenty są stale wprowadzane do reaktora, a powstały produkt jest zbierany na wylocie.

2. Do celów pozycji X.B.X.001 ‘elementy modułowe’ są modułami płynnymi, pompami cieczy, zaworami, modułami typu „packed-bed”, modułami mieszalniczymi, ciśnieniomierzami, separatorami cieczy od cieczy itp.

X.B.X.002

Asemblery i syntezatory kwasu nukleinowego, nieobjęte kontrolą w pozycji 2B352.i, częściowo lub całkowicie zautomatyzowane i zaprojektowane do generowania kwasów nukleinowych obejmujących więcej niż 50 zasad.

X.B.X.003

Automatyczne syntezatory peptydów zdolne do pracy w warunkach kontrolowanej atmosfery.

X.B.X.004

Jednostki sterowania numerycznego obrabiarek i obrabiarki „sterowane numerycznie”, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821 (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

jednostki „sterowania numerycznego” obrabiarek:

1. mające cztery osie interpolujące, które mogą być jednocześnie sterowane w sposób skoordynowany w celu sterowania kształtowego; lub

2. mające co najmniej dwie osie, które mogą być jednocześnie koordynowane w celu sterowania kształtowego, oraz minimalny programowalny przyrost lepszy (mniejszy) niż 0,001 mm;

3. jednostki „sterowania numerycznego” obrabiarek mające dwie, trzy lub cztery osie interpolujące, które mogą być jednocześnie koordynowane w celu sterowania kształtowego, i mogą odbierać bezpośrednio (on-line) i przetwarzać dane projektowania wspomaganego komputerowo (CAD) do wewnętrznego przygotowania instrukcji maszynowych; lub

płytki sterowania ruchem specjalnie zaprojektowane do obrabiarek i posiadające którąkolwiek z poniższych cech:

1. interpolacja w więcej niż czterech osiach;

2. zdolność do przetwarzania w czasie rzeczywistym danych dotyczących modyfikacji ścieżki, szybkości posuwu i danych dotyczących obrotów, podczas obróbki skrawaniem poprzez:

automatyczne obliczanie i modyfikację częściowych danych programu do obróbki skrawaniem w dwóch lub więcej osiach za pomocą cykli pomiarowych i dostępu do danych źródłowych; lub

sterowanie adaptacyjne z więcej niż jedną zmienną fizyczną mierzoną i przetwarzaną za pomocą modelu obliczeniowego (strategii) w celu zmiany co najmniej jednej instrukcji obróbki pod kątem optymalizacji procesu; lub

3. zdolność do odbierania i przetwarzania danych CAD w celu wewnętrznego przygotowania instrukcji maszynowych;

obrabiarki „sterowane numerycznie”, które zgodnie ze specyfikacjami technicznymi producenta mogą być wyposażone w urządzenia elektroniczne w celu sterowania kształtowego w co najmniej dwóch osiach i które posiadają obydwie niżej wymienione cechy:

1. co najmniej dwie osie, które można jednocześnie koordynować w celu sterowania kształtowego; oraz

2. dokładność pozycjonowania zgodnie z normą ISO 230/2 (2006), po uwzględnieniu wszystkich możliwych kompensacji:

lepsza niż 15 μm wzdłuż dowolnej osi liniowej (całkowite ustalanie położenia) dla szlifierek;

lepsza niż 15 μm wzdłuż dowolnej osi liniowej (całkowite ustalanie położenia) dla frezarek; lub

lepsza niż 15 μm wzdłuż dowolnej osi liniowej (całkowite ustalanie położenia) dla tokarek; lub

obrabiarki wymienione poniżej do skrawania lub cięcia metali, materiałów ceramicznych lub kompozytowych, które stosownie do specyfikacji technicznej producenta mogą być wyposażone w urządzenia elektroniczne do jednoczesnego sterowania kształtowego w dwóch lub więcej osiach:

1. obrabiarki do toczenia, szlifowania, frezowania lub dowolnej ich kombinacji, posiadające co najmniej dwie osie, które można jednocześnie koordynować w celu sterowania kształtowego i posiadające którąkolwiek z poniższych cech:

co najmniej jedno konturowe „wrzeciono wahliwe”;

Uwaga:

Pozycja X.B.X.004.d.1.a. ma zastosowanie wyłącznie do obrabiarek do szlifowania lub frezowania.

wartość „bicia osiowego” wrzeciona w czasie jednego obrotu mniejsza (lepsza) niż 0,0006 mm całkowitego wskazanego odczytu (TIR);

Uwaga:

Pozycja X.B.X.004.d.1.b. ma zastosowanie wyłącznie do obrabiarek do toczenia.

wartość „bicia promieniowego” (odchylenia od właściwego ruchu) podczas jednego obrotu wrzeciona mniejsza (lepsza) niż o 0,0006 mm całkowitego wskazanego odczytu (TIR); lub

dokładność pozycjonowania, z uwzględnieniem wszystkich dostępnych kompensacji, jest mniejsza (lepsza) niż: 0,001 na dowolnej osi obrotowej;

2. obrabiarki elektroerozyjne (EDM) drutowe, z co najmniej pięcioma osiami równocześnie koordynowanymi w celu sterowania kształtowego.

X.B.X.005

Obrabiarki bez „sterowania numerycznego” do wytwarzania powierzchni o jakości optycznej (zob. wykaz produktów objętych kontrolą) oraz specjalnie do nich zaprojektowane części składowe:

tokarki wykorzystujące jednopunktowe narzędzie tnące i posiadające wszystkie niżej wymienione cechy:

1. dokładność pozycjonowania sań mniejsza (lepsza) niż 0,0005 mm na odcinku 300 mm;

2. dwukierunkowa powtarzalność pozycjonowania sań mniejsza (lepsza) niż 0,00025 mm na odcinku 300 mm;

3. wartość „bicia promieniowego” i „bicia osiowego” wrzeciona mniejsza (lepsza) niż 0,0004 mm całkowitego wskazanego odczytu (TIR);

4. wartość odchylenia kątowego posuwu (odchyłu, skoku i obrotu) mniejsza niż 2 sekundy kątowe, całkowitego wskazanego odczytu (TIR) na pełnym odcinku ruchu; oraz

5. prostopadłość sań mniejsza (lepsza) niż 0,001 mm na odcinku 300 mm;

Uwaga techniczna:

Dwukierunkowa powtarzalność pozycjonowania sań (R) dla danej osi jest maksymalną wartością powtarzalności pozycjonowania w dowolnej pozycji wzdłuż lub wokół osi, wyznaczoną za pomocą procedury i na warunkach określonych w części 2.11 normy ISO 230/2: 1988.

maszyny do obróbki frezem jednoostrzowym, posiadające wszystkie niżej wymienione cechy:

1. wartość „bicia promieniowego” i „bicia osiowego” wrzeciona mniejsza (lepsza) niż 0,0004 mm TIR; oraz

2. wartość odchylenia kątowego posuwu (odchyłu, skoku i obrotu) mniejsza niż 2 sekundy kątowe, całkowitego wskazanego odczytu (TIR) na pełnym odcinku ruchu.

X.B.X.006

Maszyny do wytwarzania lub obróbki wykańczającej kół zębatych, nieobjęte kontrolą według pozycji 2B003, zdolne do wytwarzania kół zębatych do jakości wyższej niż AGMA 11.

X.B.X.007

Następujące systemy lub urządzenia do kontroli wymiarów lub pomiarowe nieobjęte kontrolą według pozycji 2B006 lub 2B206 (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

ręczne maszyny do kontroli wymiarów mające obie z następujących cech:

1. dwie osie lub więcej; oraz

2. niepewność pomiarową równą lub mniejszą (lepszą) niż (3 + L/300) μm w dowolnej osi (gdzie L jest długością mierzoną w mm).

X.B.X.008

„Roboty” nieobjęte kontrolą według pozycji 2B007 lub 2B207 zdolne do wykorzystywania w czasie rzeczywistym informacji zwrotnych z jednego lub wielu czujników do tworzenia lub modyfikacji programów lub do tworzenia lub modyfikacji numerycznych danych programowych.

X.B.X.009

Zespoły, obwody drukowane lub wkładki specjalnie zaprojektowane do obrabiarek objętych kontrolą według pozycji X.B.X.004 lub do urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.B.X.006, X.B.X.007 lub X.B.X.008:

zespoły wrzecion składające się co najmniej z wrzecion i łożysk, o ruchu osi promieniowym („bicie promieniowe”) lub osiowym („bicie osiowe”) w czasie jednego obrotu wrzeciona mniejszym (lepszym) niż o 0,0006 mm całkowitego wskazanego odczytu (TIR);

wkładki diamentowe do narzędzi jednoostrzowych, posiadające wszystkie niżej wymienione cechy:

1. krawędź tnąca bez skazy i pozbawiona wiórów po 400-krotnym powiększeniu w dowolnym kierunku;

2. promień cięcia od 0,1 do 5 mm włącznie; oraz

3. nierównomierność promienia skrawania mniejsza (lepsza) niż 0,002 mm TIR;

specjalnie zaprojektowane płytki obwodów drukowanych z zamontowanymi podzespołami, które umożliwiają, zgodnie ze specyfikacjami producenta, modernizację jednostek „sterowania numerycznego”, obrabiarek lub urządzeń ze sprzężeniem zwrotnym co najmniej do poziomów określonych w pozycjach X.B.X.004, X.B.X.006, X.B.X.007, X.B.X.008 lub X.B.X.009.

Uwaga techniczna:

Pozycja ta nie obejmuje kontrolą interferometrycznych systemów pomiarowych nieposiadających zamkniętej lub otwartej pętli sprzężenia zwrotnego, zawierających laser do pomiaru błędów ruchu posuwistego obrabiarek, urządzeń kontroli wymiarowej lub podobnych urządzeń.

X.B.X.010

Następujące specjalistyczne urządzenia do przetwarzania, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821 (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

prasy izostatyczne, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

sprzęt do produkcji mieszków, w tym sprzęt do formowania hydraulicznego i matryce do formowania mieszków;

spawarki laserowe;

spawarki MIG;

spawarki elektronowe;

sprzęt z monelu, w tym zawory, rurociągi, zbiorniki i pojemniki;

zawory, rurociągi, zbiorniki i pojemniki ze stali nierdzewnej 304 i 316;

Uwaga:

Osprzęt uznaje się za część rurociągów do celów pozycji X.B.X.010.g.

następujące urządzenia górnicze i wiertnicze:

1. ciężki sprzęt wiertniczy umożliwiający wiercenie otworów o średnicy większej niż 61 cm;

2. ciężki sprzęt do robót ziemnych wykorzystywany w przemyśle wydobywczym;

sprzęt do powlekania elektrolitycznego zaprojektowany do powlekania części niklem i aluminium;

pompy zaprojektowane do użytku przemysłowego i do stosowania z silnikiem elektrycznym o mocy co najmniej 5 KM;

zawory próżniowe, rurociągi, kołnierze, uszczelki i związane z nimi urządzenia specjalnie zaprojektowane do użytku w warunkach wysokiej próżni, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

maszyny do tłoczenia kształtowego i wyoblania kształtowego, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821;

odśrodkowe maszyny do wielopłaszczyznowego wyważania, inne niż określone we wspólnym wykazie uzbrojenia lub w rozporządzeniu (UE) 2021/821; lub

płyty, zawory, rurociągi, zbiorniki i pojemniki ze stali nierdzewnej austenitycznej.

X.B.X.011

Montowane w podłodze wyciągi dymu (typu schron) o minimalnej szerokości nominalnej wynoszącej 2,5 m.

X.B.X.012

Komory klasy II bezpieczeństwa biologicznego i komory rękawicowe.

X.B.X.013

Wirówki dekantacyjne o pojemności bębna wynoszącej 4 litry lub większej, nadające się do użytku w przypadku materiałów biologicznych

X.B.X.014

Kadzie fermentacyjne o pojemności wewnętrznej 10–20 l, wykorzystywane w przypadku materiałów biologicznych

X.B.X.015

Zbiorniki reakcyjne, reaktory, mieszadła, wymienniki ciepła, skraplacze, pompy (w tym pompy jednokrotnie uszczelnione), zawory, zbiorniki, pojemniki, odbiorniki oraz kolumny destylacyjne lub absorpcyjne, które spełniają parametry eksploatacyjne kontroli 2B350 (25), niezależnie od materiału, z którego są wykonane.

Uwaga:

Do celów kontroli pozycji X.B.X.015 wyłączone są zawory hydrauliczne i zbiorniki o totalnej wewnętrznej objętości nieprzekraczającej 1 m3 (1 000 litrów) zaprojektowane do celów domowych systemów wodnych lub gazowych.

X.B.X.016

Komory czystego powietrza o przepływie konwencjonalnym lub turbulentnym i niezależne wentylatorowe urządzenia filtracyjne HEPA, które mogą być wykorzystywane w obudowach zabezpieczających poziomu P3 lub P4 (BSL 3, BSL 4, L3, L4).

X.B.X.017

pompy próżniowe, o maksymalnym natężeniu przepływu, według specyfikacji producenta, powyżej 1 m3/h, (w warunkach znormalizowanej temperatury i ciśnienia), osłony (korpusy pomp), preformowane wkładki pomp, wirniki, tłoki oraz dysze do pomp strumieniowych skonstruowane do takich pomp, w których wszystkie powierzchnie posiadające bezpośredni kontakt z przetwarzanymi lub znajdującymi się w nich substancjami chemicznymi wykonane są z materiałów objętych kontrolą:

X.B.X.018

Sprzęt laboratoryjny, w tym części i akcesoria do takiego sprzętu, do analizy lub wykrywania, w sposób niszczący lub nieniszczący, substancji chemicznych.

X.B.X.019

Całe ogniwa do elektrolizy chloro-alkalicznej – rtęciowej, przeponowej i membranowej.

X.B.X.020

Elektrody tytanowe (w tym z powłokami wytwarzanymi z tlenków innych metali), specjalnie zaprojektowane do stosowania w ogniwach chloro-alkalicznych.

X.B.X.021

Elektrody niklowe (w tym z powłokami wytwarzanymi z tlenków innych metali), specjalnie zaprojektowane do stosowania w ogniwach chloro-alkalicznych.

X.B.X.022

Bipolarne elektrody tytanowo-niklowe (w tym z powłokami wytwarzanymi z tlenków innych metali), specjalnie zaprojektowane do stosowania w ogniwach chloro-alkalicznych.

X.B.X.023

Przepony azbestowe specjalnie zaprojektowane do stosowania w ogniwach chloro-alkalicznych.

X.B.X.024

Przepony na bazie fluoropolimeru specjalnie zaprojektowane do stosowania w ogniwach chloro-alkalicznych.

X.B.X.025

Membrany jonowymienne na bazie fluoropolimerów specjalnie zaprojektowane do stosowania w ogniwach chloro-alkalicznych.

X.B.X.026

Sprężarki specjalnie zaprojektowane do sprężania mokrego lub suchego chloru, niezależnie od materiału konstrukcyjnego.

X.B.X.027

Reaktory mikrofalowe – Maszyny, instalacje lub sprzęt laboratoryjny, z podgrzewaniem elektrycznym lub bez, do poddawania materiałów procesom wymagającym zmiany temperatury, takim jak grzanie.

X.D.X.001

„Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.A.X.001.

X.D.X.002

„Oprogramowanie”„niezbędne” do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń do wykrywania ukrytych obiektów, objętych kontrolą według pozycji X.A.X.002.

X.D.X.003

„Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.B.X.004, X.B.X.006 lub X.B.X.007, X.B.X.008 i X.B.X.009.

X.D.X.004

Następujące „oprogramowanie” specjalistyczne (zob. wykaz produktów objętych kontrolą):

„oprogramowanie” zapewniające sterowanie adaptacyjne i posiadające obydwie niżej wymienionych cechy:

1. dla elastycznych jednostek produkcyjnych (FMU); oraz

2. zdolne do generowania lub modyfikowania, w czasie rzeczywistym, procesów, programów lub danych przy użyciu sygnałów otrzymanych jednocześnie za pomocą co najmniej dwóch technik wykrywania, takich jak:

system wizyjny (zakres optyczny);

obrazowanie w podczerwieni;

obrazowanie akustyczne (zakres akustyczny);

pomiar dotykowy;

pozycjonowanie bezwładnościowe;

pomiar siły; oraz

pomiar momentu obrotowego;

Uwaga:

Pozycja X.D.X.004.a nie obejmuje kontrolą „oprogramowania” zapewniającego wyłącznie zmianę harmonogramu identycznego funkcjonalnie sprzętu w ramach „elastycznych jednostek produkcyjnych” z wykorzystaniem zapamiętanych programów obróbki części oraz zapamiętanej strategii rozprowadzania programów obróbki części.

nieużywane.

X.D.X.005

„Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do celów „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” produktów objętych kontrolą według pozycji X.A.X.004 lub X.A.X.005.

Uwaga:

W odniesieniu do „oprogramowania” objętego kontrolą w ramach niniejszej pozycji zob. 2E001 („rozwój”).

X.D.X.006

„Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane do „rozwoju” lub „produkcji” przenośnych generatorów elektrycznych objętych kontrolą według pozycji X.A.X.006.

X.E.X.001

„Technologia”„wymagana” do „rozwoju”, „produkcji” lub „użytkowania” sprzętu objętego kontrolą według pozycji X.A.X.002 lub „wymagana” do „rozwoju”„oprogramowania” objętego kontrolą według pozycji X.D.X.002.

Uwaga:

Zob. pozycje X.A.X.002 i X.D.X.002 w odniesieniu do powiązanych kontroli towarów i „oprogramowania”.

X.E.X.002

„Technologie” do „użytkowania” urządzeń objętych kontrolą według pozycji X.B.X.004, X.B.X.006, X.B.X.007 lub X.B.X.008.

X.E.X.003

„Technologia”, zgodnie z uwagą ogólną do technologii w odniesieniu do „użytkowania” sprzętu objętego kontrolą według pozycji X.A.X.004 lub X.A.X.005.

X.E.X.004

„Technologie” do „użytkowania” przenośnych generatorów elektrycznych objętych kontrolą według pozycji X.A.X.006.

Część B

1. Elementy półprzewodnikowe światłoczułe

Kod CN

Opis

8541 10

Diody, inne niż fotodiody lub diody elektroluminescencyjne (LED)

8541 21

Tranzystory, z wyjątkiem fototranzystorów, o stopniu rozproszenia mniejszym niż 1 W

8541 29

Pozostałe tranzystory, z wyjątkiem fototranzystorów

8541 49

Światłoczułe urządzenia półprzewodnikowe (z wyłączeniem generatorów i ogniw fotowoltaicznych)

8541 51

Pozostałe elementy półprzewodnikowe: Przetworniki półprzewodnikowe

8541 59

Pozostałe elementy półprzewodnikowe

8541 60

Oprawione kryształy piezoelektryczne

8541 90

Elementy półprzewodnikowe światłoczułe; Części

2. Elektroniczne układy scalone

Kod CN

Opis

8537 10

Tablice, panele, konsole, pulpity, szafy i pozostałe układy wspornikowe, wyposażone przynajmniej w dwa lub więcej urządzeń objętych pozycją 8535 lub 8536 , służące do elektrycznego sterowania lub rozdziału energii elektrycznej, włącznie z układami zawierającymi przyrządy lub aparaturę, objęte działem 90, oraz aparatura sterowana numerycznie, inna niż aparatura połączeniowa objęta pozycją 8517 — do napięć nieprzekraczających 1 000 V

8542 31

Procesory i sterowniki, nawet połączone z pamięciami, przetwornikami, układami logicznymi, wzmacniaczami, zegarami i układami czasowymi lub innymi układami

8542 32

Pamięci

8542 33

Wzmacniacze

8542 39

Pozostałe elektroniczne układy scalone

8542 90

Elektroniczne układy scalone: Części

3. Aparaty fotograficzne.

Kod CN

Opis

8525 89

Pozostałe kamery telewizyjne, kamery i aparaty cyfrowe oraz rejestrujące kamery wideo

9006 30

Aparaty fotograficzne specjalnie zaprojektowane do fotografii podwodnej lub do aerofotogrametrii, do fotografii medycznej lub do badań chirurgicznych organów wewnętrznych; aparaty fotograficzne porównawcze do celów medycyny sądowej lub kryminologii

9013 80

Pozostałe urządzenia i przyrządy optyczne

9025 19

Pozostałe termometry i pirometry, niepołączone z innymi przyrządami

4. Pozostałe komponenty elektryczne/magnetyczne

Kod CN

Opis

8505 11

Magnesy trwałe i artykuły, które mają stać się trwałymi magnesami po namagnesowaniu; z metalu

8529 10

Anteny i reflektory anten wszelkich typów; części nadające się do stosowania do nich

8532 21

Pozostałe kondensatory elektryczne, stałe z tantalu

8532 24

Ceramiczne wielowarstwowe kondensatory dielektryczne

8536 50

Pozostałe przełączniki

8536 69

Wtyki i gniazda

8536 90

Pozostałe urządzenia do przełączania lub zabezpieczania obwodów elektrycznych, lub do wykonywania połączeń w obwodach elektrycznych, lub do tych obwodów (na przykład przełączniki, przekaźniki, bezpieczniki, tłumiki przepięciowe, wtyki, gniazda wtykowe, oprawki lamp i inne złącza, skrzynki przyłączowe), do napięć nieprzekraczających 1 000 V; złącza do włókien optycznych, wiązek włókien optycznych lub kabli światłowodowych

8548 00

Elektryczne części maszyn i urządzeń, niewymienione ani niewłączone gdzie indziej w dziale 85

5. Maszyny do wytwarzania przyrostowego

Kod CN

Opis

8485 20

Maszyny do obróbki przyrostowej metodą osadzania tworzyw sztucznych lub gumy

8485 30

Maszyny do obróbki przyrostowej metodą osadzania gipsu, cementu, ceramiki lub szkła

8485 90

Części maszyn do wytwarzania przyrostowego

”

(1) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(2) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(3) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(4) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(5) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(6) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(7) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(8) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(9) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(10) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(11) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(12) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(13) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(14) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(15) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(16) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(17) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(18) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(19) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(20) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(21) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(22) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(23) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(24) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

(25) Odniesienie do załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821.

Tekst urzędowy w EUR-Lex. Lexeva pokazuje treść przepisu, nie udziela porad prawnych. Moc prawną ma wyłącznie tekst opublikowany w Dzienniku Urzędowym Unii Europejskiej.